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[供應]半導體溫度沖擊試驗-半導體溫度沖擊老化試驗箱
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  • 半導體溫度沖擊試驗-半導體溫度沖擊老化試驗箱
貨物所在地:
四川成都市
產地:
廣東省東莞長城聚怡工業園區
更新時間:
2023-07-21 21:00:07
有效期:
2023年7月21日 -- 2024年1月21日
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169
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產品簡介

半導體溫度沖擊老化試驗箱用來測試材料結構或復合材料,在瞬間下經*溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度, 藉以在Z短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害.適用的對象包括金屬, 塑料, 橡膠, 電子....等材料,可作為其產品改進的依據或參考。

詳細介紹

半導體溫度沖擊老化試驗箱

簡介:冷熱沖擊試驗機,用來測試材料結構或復合材料,在瞬間下經*溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度,藉以在zui短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業、航天工業、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。我司生產的冷熱沖擊試驗機質量好,價格優,免費保養,歡迎采購。

設備規格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;設備還可提供標準高低溫試驗功能,實現了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容;高強度、高可靠性的結構設計- 確保了設備的高可靠性;、

半導體 溫度沖擊老化試驗箱

產品用途

該產品適用于電子元氣件的安全性能測試提供可靠性試驗、產品篩選試驗等,同時通過此裝備試驗,可提高產品的可靠性和進行產品的質量控制。高低溫沖擊試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領域*的測試設備,考核和確定電工、電子、汽車電器、半導體、材料等產品,在進行高低溫試驗的溫度環境沖擊變化后的參數及性能,使用的適應性,適用于學校,工廠,*,研位,等單位.

機械鈑金結構

全部功能采用計算機控制,系自主開發的軟件,有良好的操作界面,使用戶的操作和監測都更加簡單和直觀,保持功能可以使你正在運行的程序保持在目前的狀態下,可以臨時更改此程序段的數值,可以在屏幕上設置時間和參數,使制冷、加熱、提藍傳送切換,按設定值自動進行。

冷箱、熱箱獨立控制,箱門互相獨立,擴大試驗箱的使用范圍(一箱三用)。

產品保溫效果可以得到充分保證。

試驗箱門與循環風機,提藍傳動等互鎖,保護操作者的安全,一旦打開箱門,循環風機和提藍傳動的電源會被自動切斷。

在箱頂有標準引線孔管,方便用戶向箱內引入傳感器線,檢測電纜等類型引線。

半導體溫度沖擊老化試驗箱

控制系統

低溫區、高溫區轉換時間小于等于15秒。

溫度恢復時間小于等于5分鐘。

 

半導體 溫度沖擊老化試驗箱

規范要求:

a.采用鋁片驗證機臺負載能力(非塑料負載)
b.傳感器放置測試區而非風道口符合實驗有效性
a.進行兩箱沖擊時測試區濕度符合規范要求
b.可擴充待測品表面溫度控制駐留時間來縮短試驗時間
c.可直接多項規范與試驗條件

半導體溫度沖擊老化試驗箱

*設備特點
規格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;
設備還可提供標準高低溫試驗功能,實現了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容;
高強度、高可靠性的結構設計- 確保了設備的高可靠性;
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強,使用壽命長;
高密度聚氨酯發泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui?。?/span>
表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命;
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性;
多種可選功能(測試孔、記錄儀、測試電纜等)保證了用戶多種功能和測試的需要;
大面積電熱防霜觀察窗、內藏式照明 –可以提供良好的觀察效果;
環保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環境保護要求;

*可根據用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能

半導體 溫度沖擊老化試驗箱

型 號

 

 

TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W

TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W

TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W

TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W

標稱內容積(升)

80

150

200

300

試驗方式

氣動風門切換2溫室或3溫室方式

性能

高溫室

預熱溫度范圍

+60~+200℃

升溫速率※1

+60→+200℃≤20分鐘

低溫室

預冷溫度范圍

-78-0℃

降溫速率※1

+20→-75℃≤80分鐘

試驗室

溫度偏差

±2℃

溫度范圍

TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃;
TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃;
TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃

溫度恢復時間※2

5分鐘以內

試樣擱架承載能力

30kg

試樣重量

7.5kg

10kg

10kg

內部尺寸(mm)

W

500

600

750

850

H

400

500

500

600

D

400

500

600

800

外形尺寸(mm)

W

1460

1560

1710

1880

H

1840

1940

1940

2040

D

1500

1600

1700

1900

※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉時的性能。

※2恢復條件:室溫為+25℃和循環水溫為+25℃,試樣是塑料封裝集成電路。(均布)

半導體溫度沖擊老化試驗箱

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