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電子高低溫沖擊測(cè)試試驗(yàn)箱，冷熱沖擊箱

宏展高新產(chǎn)品之一冷熱沖擊測(cè)試設(shè)備儀器，電子電路板行業(yè)我們客戶繁多，也得到了客戶的認(rèn)可，多次使用，介紹朋友購(gòu)買(mǎi)，都是給我們前進(jìn)的動(dòng)力。

*設(shè)備特點(diǎn)
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；
高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng)，使用壽命長(zhǎng)；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門(mén)的高密封性；
多種可選功能（測(cè)試孔、記錄儀、測(cè)試電纜等）保證了用戶多種功能和測(cè)試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求；

*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能
電子高低溫沖擊測(cè)試試驗(yàn)箱，冷熱沖擊箱
*溫度控制
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過(guò)程的全程記錄和追溯；
每臺(tái)電機(jī)均配置過(guò)流（過(guò)熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~*自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

電子高低溫沖擊測(cè)試試驗(yàn)箱，冷熱沖擊箱
 

電子高低溫沖擊測(cè)試試驗(yàn)箱，冷熱沖擊箱

蓄熱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱規(guī)格表（Programmable Thermal Shock Tster） ---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格★可配增加此功能※可配增加LN2功能   試驗(yàn)規(guī)范 駐留溫度（℃） （exposure temp.） 駐留溫度時(shí)間（Min） （exposure time） 覆歸時(shí)間 （recovery time） 周期 或次數(shù) 試驗(yàn)起 始點(diǎn) 備注 適用機(jī)臺(tái)型號(hào) TS-（46/80/150/252/336） 高溫 室溫 低溫 高溫/低溫 室溫 S U L MIL-STD-883E （Method 010.7） +85 +10 ---- -55 0 ≧10min ≦15min ---- 含駐留時(shí)間& 轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min zui少 10次 低溫或 高溫 Temperature Cycling （轉(zhuǎn)換時(shí)間<1min） 實(shí)驗(yàn)過(guò)程若中斷 超過(guò)總實(shí)驗(yàn)之1/10 次則實(shí)驗(yàn)須重做 ◎ ◎ ---- 0 +125 +15 ◎ ◎ ---- 0 -10 +150 +15 ◎ ◎ ---- 0 +150 +15 -65 0 ◎ . ---- 0 -10 MIL-STD-202F （Method 07G） +83 +3 -25 +10 -55 0 28g以下 15～30 Min 28～136g 30Min 136g～1.36Kg 60Min 1.36～13.6Kg 120Min 13.6~136Kg 240Min Max. 5 Min 5 Min 以內(nèi) 5 cycle 25 50 100 低溫 Transfer time 不超過(guò)5 min ◎ ◎ ◎ 0 -3 +125 +3 -65 0 ◎ ◎ ---- 0 -5 -5 +125 +3 -65 0 ◎ ◎ ---- 0 -5 JIS C 0025 IEC 68-2-14 GB 2423.22 +70 +85 +100 +125 ±2 ±2 ±2 ±2 室溫 -5 -10 -25 -40 -55 -65 ±3 ±3 ±3 ±3 ±3 ±3 3hr 2hr 1hr 30min 或無(wú)定義則 以3hr定義 手動(dòng)轉(zhuǎn) 移時(shí)間 2～3Min 為駐留時(shí)間 之1/10 5 cycle 除非有 其它規(guī)格 低溫 Auto Transfer time 不超過(guò)30 sec 小試件 Transfer time 不超過(guò)10 sec ★ ★ ★ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ 　 　 ◎ ◎ ◎ 　 　 ◎ ◎ ---- IPC 2.6.7 +70 ±2 ---- 0 +0 15 Min ---- 2 Min 以內(nèi) 100 cycle 高溫 （試驗(yàn)結(jié)束 點(diǎn)在高溫） Transfer time 不超過(guò)2 min ★ ★ ★ -0 -5 +85 +5 -40 +0 ◎ ◎ ◎ -0 -5 +105 +5 -55 +0 ◎ ◎ ． -0 -5 +105 +5 -65 +0 ． ． ---- -0 -5 +105 +5 　 　 ． ． ---- -0 IPC 2.6.6 +85 +3 -25 +10 -55 +0 30 Min 10-15 Min 　 5 cycle 　 　 ◎ ◎ ◎ -0 -5 +125 +3 -5 -65 +0 ◎ ◎ ---- -0 -5

*設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)

保養(yǎng)說(shuō)明：

1.在實(shí)施保養(yǎng)中過(guò)程中，請(qǐng)務(wù)必將機(jī)器之總電源及漏電斷路器予以關(guān)閉

2.請(qǐng)確實(shí)實(shí)施各機(jī)件的定期保養(yǎng)，以維持機(jī)器正常運(yùn)作。

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