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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
高低溫沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱，鍵盤冷熱沖擊測(cè)試箱
用途：冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在zui短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
a) 測(cè)試方案：將裝配好的整機(jī)放置在將溫度沖擊試驗(yàn)箱中：先在-40℃±2℃的低溫環(huán)境下保持1 h，在1min內(nèi)將溫度切換到80℃±2℃的高溫環(huán)境下并保持1h ，共做10個(gè)循環(huán)(20h)，樣品取出后在室溫下面放置2 h以上。拆開整機(jī)將拱形薄膜從PCB板上撕掉后檢查Dome有無從薄膜上脫落、測(cè)試Dome及EMI層的電阻值、并測(cè)試Dome彈片的回彈曲線。
b) 通過準(zhǔn)則：Dome沒有從拱形薄膜上脫落;Dome的阻值小于 1.0 Ω(測(cè)試方法見15.3條)、EMI層的阻值小于 2.5 Ω;按鍵行程(Stroke)、接觸力(P1)、回彈比率(Cc)符合15.4節(jié)的要求。
高低溫沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱，鍵盤冷熱沖擊測(cè)試箱
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TSL-80-A TSU-80-W TSS-80-W | TSL-150-A TSU-150-W TSS-150-W | TSL-225-W TSU-225-W TSS-225-W | TSL-408-W TSU-408-W TSS-408-W | |||||
標(biāo)稱內(nèi)容積（升） | 80 | 150 | 200 | 300 | ||||
試驗(yàn)方式 | 氣動(dòng)風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式 | |||||||
性能 | 高溫室 | 預(yù)熱溫度范圍 | ＋60～＋200℃ | |||||
升溫速率※1 | ＋60→＋200℃≤20分鐘 | |||||||
低溫室 | 預(yù)冷溫度范圍 | －78－0℃ | ||||||
降溫速率※1 | ＋20→－75℃≤80分鐘 | |||||||
試驗(yàn)室 | 溫度偏差 | ±2℃ | ||||||
溫度范圍 | TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃; TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃; TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃ | |||||||
溫度恢復(fù)時(shí)間※2 | 5分鐘以內(nèi) | |||||||
試樣擱架承載能力 | 30kg | |||||||
試樣重量 | 7.5kg | 7.5kg | 10kg | 10kg | ||||
內(nèi)部尺寸（mm） | W | 500 | 600 | 750 | 850 | |||
H | 400 | 500 | 500 | 600 | ||||
D | 400 | 500 | 600 | 800 | ||||
外形尺寸（mm）※4 | W | 1460 | 1560 | 1710 | 1880 | |||
H | 1840 | 1940 | 1940 | 2040 | ||||
D | 1500 | 1600 | 1700 | 1900 | ||||
※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗(yàn)箱單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能。 | ||||||||
※2恢復(fù)條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布） | ||||||||
滿足標(biāo)準(zhǔn)
1、GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；
2、GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；
5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；
6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。
7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
9、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化
10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
11、GB/T 2423.22-2002溫度變化
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則
13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估
