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產品介紹
普賽斯PRECISE S300源表應用領域
各種器件的I-V功能測試和特征分析，包括：
離散和無源元件
–兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅動器頭、金屬氧化物可變電阻(MOV)、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻
–三抽頭器件——小信號雙極結型晶體管(BJT)、場效應晶體管(FET)等等
簡單IC器件——光學器件、驅動器、開關、傳感器
集成器件——小規模集成(SSI)和大規模集成(LSI)
–模擬IC
–射頻集成電路(RFIC)
–專用集成電路(ASIC)
–片上系統(SoC)器件
光電器件，例如發光二極管(LED)、激光二極管、高亮度LED(HBLED)、垂直腔面發射激光器(VCSEL)、顯示器
圓片級可靠性
- NBTI、TDDB、HCI、電遷移
太陽能電池
電池
暫態抑制器件
IC、RFIC、MMIC
激光二極管、激光二極管模塊、LED、光電檢測器
電路保護器件:
TVS、MOV、熔絲
安全氣囊
連接器、開關、繼電器
碳納米管
半導體納米線
碳納米管 FET
納米傳感器和陣列
單電子晶體管
分子電子
有機電子
基本運放電路
二極管和電路
晶體管電路
測試：
漏流
低壓、電阻
LIV
IDDQ
I-V特征分析
隔離與軌跡電阻
溫度系數
正向電壓、反向擊穿、漏電流
直流參數測試
直流電源
HIPOT
介質耐受性
雙極結型晶體管設計
結型場效應晶體管設計
金屬氧化物半導體場效應晶體管設計
太陽能電池和 LED 設計
高電子遷移率晶體管設計
復合半導體器件設計
分析納米材料和實驗器件
碳納米管的電測量標準
測量碳納米管電氣特性
提高納米電子和分子電子器件的低電流測量
在低功率和低壓應用中實現準確、可靠的電阻測量
納米級器件和材料的電氣測量
提高超高電阻和電阻率測量的可重復性
一種微分電導的改進測量方法
納米技術準確電氣測量的技術
納米級材料的電氣測量
降低外部誤差源影響的儀器技術
迎接65nm節點的測量挑戰
測量半導體材料的高電阻率和霍爾電壓
用微微微安量程測量電流
柵極電介質電容電壓特性分析
評估氧化層的可靠性
新的半導體器件結構設計和試驗低電阻、低功耗半導體器
輸出極低電流和測量極低電壓分析現代材料、半導體和納米電子元件的電阻
低阻測量(低至10nΩ)分析導通電阻參數、互連和低功率半導體。
用于*進CMOS技術的脈沖可靠性測試
高K柵極電介質電荷俘獲行為的脈沖特性分析
用6線歐姆測量技術進行更高準確度的電阻測量
配置分立電阻器驗證測試系統
電信激光二極管模塊的高吞吐率直流生產測試
多臺數字源表的觸發器同步
高亮度、可見光LED的生產測試
OLED顯示器的直流生產測試
在運行中第5次測量用于偏置溫度不穩定特性分析
數字源表的緩沖器以及如何用這兩個緩沖器獲取多達5000點數據
連接器的生產測試方案
射頻功率晶體管的直流電氣特性分析
VCSEL測試、光伏電池的I-V特性、IDDQ測試和待機電流測試、產生電流 (或電壓) 脈沖、提升多引腳器件的生產量、創建可擴縮、多引腳、多功能IC測試系統、激光二極管模塊和VCSEL進行高吞吐率直流、二極管生產測試、高亮度、可見光LED、驗證變阻器、電池放電/充電周期、配置電阻網絡、大電流變阻器、熱敏電阻的生產測試
規格參數
電壓 源 測量
量程 分辨率 準確度±(% rdg.+volts) 分辨率 準確度±(% rdg.+volts)
300mV 30uV 0.1%±300uV 30uV 0.1%±300uV
3V 300uV 0.1%±500uV 300uV 0.1%±500uV
30V 3mV 0.1%±3mV 3mV 0.1%±3mV
300V 30mV 0.1%±30mV 30mV 0.1%±30mV
電流 源 測量
量程 分辨率 準確度±(% rdg.+A) 分辨率 準確度±(% rdg.+A)
100nA 10pA 0.1%±0.5nA 10pA 0.1%±0.5nA
1uA 100pA 0.1%±3nA 100pA 0.1%±3nA
10uA 1nA 0.1%±5nA 1nA 0.1%±5nA
100uA 10nA 0.1%±50nA 10nA 0.1%±50nA
1mA 100nA 0.1%±300nA 100nA 0.1%±300nA
10mA 1uA 0.1%±5uA 1uA 0.1%±5uA
100mA 10uA 0.1%±20uA 10uA 0.1%±20uA
1A 100uA 0.1%±2mA 100uA 0.1%±2mA
備注：
大輸出功率：30W，4象限源或肼模式；
源限度：電壓源：±30V(≤1A量程)，±300V(≤100mA量程)；
電流源：±1.05A(≤30V量程)，±105mA(≤300V量程)；
過量程：105%量程，源和測量；
穩定負載電容：<22nF；
寬帶噪聲(20MHz)：2mV RMS(典型值)，<20mV Vp-p(典型值)；
線纜保護電壓：輸出阻抗1KΩ，輸出電壓偏移<80uV；
大采樣速率：1000S/s；
觸發：支持IO觸發輸入及輸出，觸發極性可配置 。
選型指南
型號 S100 S200 S300
源精度 0.1% 0.1% 0.1%
測量精度 0.1% 0.1% 0.1%
大功率 30W 30W 30W
小電壓量程 300mV 300mV 300mV
大電壓量程 30V 100V 300V
小電流量程 100nA 100nA 100nA
大電流量程 1A 1A 1A
研發創新，替代進口
S系列源表是我公司歷時多年持續投資、持續攻堅打造的高精度、大動態、數字觸摸源表.普賽斯PRECISE S300源表，作為國產源表在業界*推出。
把簡單帶給用戶
源表 = 高精度雙極性可編程電源 + 高精度雙極性可編程電子負載 + 數字萬用表，可以簡化復雜的 IV 測量任務，用于創建快速、功能強大的電子器件測試和測量系統。
傳統的萬用表-電源組合方式需要編程實現設備控制及同步，這種組合的開發建立和維護都需要時間，而且購買整體成本高。源表不需要這種多臺儀器相關復雜同步連接問題，簡化了測試本身，提升了測試效率。而且源及測量的準確度為0.1%，分辨率5數位，測量結果比傳統方式更精確。
源表同時精確提供和測量電壓和/或電流，減少了測試時間。如果被測設備實際電壓值或者電流值達到了用戶設置的限制值，那么電壓或者電流會被精確的限制住，避免了對被測設備造成損壞。
S系列源表讓復雜測量變得簡單
在進行 IV 測量時，如果使用常規儀器比如電壓/電流源、開關和萬用表，那么測量過程將會非常復雜和耗時。用戶必須精通測量方法和儀器方面的技術知識，才能實現精準的測量。
S系列源表支持四象限工作，既能擔當精密性電壓/電流源(源模式)，又能充當電氣負載被動吸收流入的電流(肼模式)，而且支持豐富的掃描模式(線性掃描、指數掃描及用戶自定義掃描)，能夠執行從直流到低頻交流的各種測量，而無需更改連接或使用其他設備。
S系列源表讓復雜測量變得高效
源表的輸出電壓(±300V)、電流范圍遠大于常規電源，測試不同功率大小的待測器件(DUT)基本不用更換設備，其次源表在小電流測試時也具有很高的精度，暗電流測試準確，而高精度的電流測試萬用表價格也是比較高的，再次多臺源表間可以互聯觸發，支持自動序列測試，測試速度快。
S系列源表內置有掃描功能，支持豐富的掃描模式，用戶從儀器前面板上便可快速進行掃描測量并顯示掃描結果。綜合的掃描測量功能可以顯著提高效率并縮短測量設置時間。
S系列源表還內置強大的功能軟件，如LIV、PIV，加速用戶完成測試。
4 線測量功能可實現精確的低電阻測量
當測量小電阻時，引線自身的電阻會造成嚴重的測量誤差。為解決這一問題，S系列支持 4 線(也稱為開爾文法)測量功能。在 4 線方案中，兩個連接器輸入電流，另外兩個連接器測量電壓。在這種配置下，迫使測試電流(I)經過一套測試引線流過被測電阻(R)；而待測器件(DUT)兩端電壓則是通過稱為檢測引線的第二套引線來測量的。電壓檢測端為高阻輸入，檢測引線中電流一般為p*，同時由于導線電阻很小，引線上的壓降可以忽略不計，因此采用四線模式可以精確的測量被測器件上的實際電壓。
創新的 GUI 和 5寸觸摸顯示屏方便用戶使用臺式儀器執行測試、調試和表征
S系列的前面板具有多種功能特性，可以快速簡便地進行交互式操作。這些特性包括5寸800*480觸摸顯示屏、USB存儲器I/O 端口、快捷鍵和旋鈕。觸摸屏支持全圖形化操作，使用戶可以快速進行測試設置和檢查測試結果。USB存儲器端口使數據存儲和轉移變得十分方便。創新的圖形用戶界面極大改善了使用臺式儀器進行測試、調試和表征的易用性和效率。
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