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產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 環保,地礦,能源,冶金,綜合 |
EDX-6000 貴金屬珠寶檢測儀
能量色散X熒光光譜儀
檢測
>小光斑(1mm),定點測試
>垂直光路設計,有效降低非平面樣品對測試結果影響
>精準,快速,無損
>一鍵測試,快速上手
>無需每天重復標定,提高檢測效率
>拓展應用---鍍層和電鍍液分析
>堅固耐用,適應復雜工作環境
EDX6000-小光斑 檢測儀---能量色散XRF
并不是所有閃閃發光的都是 ,如果您想確切知道其中包含的 量,可以依靠我們的X射線熒光(XRF)光譜儀:EDX6000,您可以快速檢查珠寶的真實性并分析貴金屬和其他雜質金屬的含量–而且不同于火試金測量法,我們的設備對樣品是無損地。
全新設計的EDX6000光譜儀,使用了垂直光路的設計,有效提高了非平面樣品(比如戒指)的定位和測試精度。同時,垂直光路使光管與樣品位置更近,能更高效激發樣品。
EDX6000光譜光路設計1-1 普通光譜儀光路設計1-2
內部結構圖1-3
檢測對象: 、鉑金、鈀金、K金、K白金,合金,電鍍液等
產品特點 :
微光斑(1mm,0.5mm),1mm樣品檢測面積。利用我們的集成攝像頭和小點功能,來捕獲圖像并專注于小區域檢測。
垂直光路設計,提高復雜樣品檢測精度
多準直器可選(0.5mm,1mm,2mm)
FP(基本參數法)核心算法,無需標定,一次測試多達30種金屬元素
第三代DPP(digital pulse processor)數字脈沖處理器,更穩定
全新光管風冷技術,有效延長光管使用壽命
珠寶飾檢測EDX6000
>儀器參數
儀器外觀尺寸: 400mm*405mm*455mm |
樣品腔:300mm*310mm*104mm |
儀器重量: 38 kg |
元素分析范圍:K19-U92鉀到鈾 |
可分析含量范圍:1ppm- 99.99% |
探測器:AmpTek 高分辨率電制冷硅檢測器Si-Pin |
多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器 |
X光管:50W高功率鈹窗光管 |
高壓發生裝置:電壓大輸出50kV,自帶電壓過載保護 |
電壓:220ACV 50/60HZ |
環境溫度:-10 °C 到35 °C |
儀器配置
>標準配置 | >可選配置 |
純Au初始化標樣 | 交流凈化穩壓電源 |
戒指樣品夾 | 標樣 |
USB數據線 | |
電源線 | |
測試薄膜 | |
儀器出廠和標定報告 | |
保修卡 |
功能強大界面友好的FP測試軟件
測試譜圖14K
一鍵測試,客戶只需要打開儀器蓋子,放入樣品,點擊‘開始’按鈕即可完成測試
核心FP算法,使得EDX6000匹配實驗室火試金法的測試精度
元素含量, K值,測試譜圖一目了然
一鍵打印測試報告
多點測試功能。客戶可以測量樣品多個點位,軟件自動計算平均值。
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