磁粉探傷用試片使用說明

磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向、有效檢測(cè)區(qū)以及磁化方法是否正確。

標(biāo)準(zhǔn)試片A1、A2、D、C、M1型規(guī)格中：

標(biāo)準(zhǔn)試片使用方法：

   標(biāo)準(zhǔn)試片適用于連續(xù)磁化法，使用時(shí)應(yīng)將試片無人工缺陷的面朝外，為使試片與被檢面接觸良好，可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上，并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。

磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A130/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。當(dāng)檢測(cè)坡口狹小部位，由于尺寸關(guān)系可選擇適合大小的試片檢測(cè)；當(dāng)用戶需要或技術(shù)文件有規(guī)定時(shí)，可選用規(guī)定的試片檢測(cè)。

標(biāo)準(zhǔn)試片在檢測(cè)前用柔軟紙或紗片將試片表面油擦去；檢測(cè)后請(qǐng)防銹。

標(biāo)準(zhǔn)試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。

A1、A2試片外型規(guī)格一樣。A1試片經(jīng)過退火處理；A2試片未經(jīng)過退火處理。

C型標(biāo)準(zhǔn)試片可剪成5個(gè)小試片分別使用。

磁粉探傷用試片使用說明

磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向、有效檢測(cè)區(qū)以及磁化方法是否正確。

標(biāo)準(zhǔn)試片A1、A2、D、C、M1型規(guī)格中： 

標(biāo)準(zhǔn)試片使用方法：

   標(biāo)準(zhǔn)試片適用于連續(xù)磁化法，使用時(shí)應(yīng)將試片無人工缺陷的面朝外，為使試片與被檢面接觸良好，可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上，并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。

磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A130/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。當(dāng)檢測(cè)坡口狹小部位，由于尺寸關(guān)系可選擇適合大小的試片檢測(cè)；當(dāng)用戶需要或技術(shù)文件有規(guī)定時(shí)，可選用規(guī)定的試片檢測(cè)。

標(biāo)準(zhǔn)試片在檢測(cè)前用柔軟紙或紗片將試片表面油擦去；檢測(cè)后請(qǐng)防銹。

標(biāo)準(zhǔn)試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。

A1、A2試片外型規(guī)格一樣。A1試片經(jīng)過退火處理；A2試片未經(jīng)過退火處理。

C型標(biāo)準(zhǔn)試片可剪成5個(gè)小試片分別使用。