M1標準磁粉探傷試片

M1標準磁粉探傷試片符合JB4730.4-2005標準，用于驗證磁粉探傷的綜合性能。一套包含2片。是磁粉探傷的常用備件。 

該標準磁粉探傷試片用于檢驗磁粉探傷設備、磁粉、磁懸液的綜合性能（系統靈敏度），及磁化方向、有效磁化范圍和大致的有效磁場強度以及考察所采用的探傷工藝規程。
A1型磁粉標準試片按HB/T6065-04標準制作，是磁粉探傷*的工具。
規格：-15/100
        -30/100
        -60/100
        -7/50
        -15/50
        -30/50
后三種適用于有曲率的探傷面。
其他試片有C2型，D1型。

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