Keysight E4982A 射頻LCR表 描述

E4982A LCR 表可為 SMD 電感器、EMI 濾波器等無源元器件的制造測試提供良好的性能，其中需要在高頻率上進(jìn)行阻抗測試（1 MHz ～ 3 GHz）。除了制造測試之外，E4982A 還可用于研發(fā)領(lǐng)域，借助強(qiáng)大的功能（例如列表測量）提供質(zhì)量保證。

Keysight E4982A 射頻LCR表 主要特性與技術(shù)指標(biāo)

頻率
?1 MHz ～ 300 MHz / 500 MHz / 1 GHz / 3 GHz，可升級

測量時間
?高速測量：0.9 ms（模式 1）、2.1 ms（模式 2）、3.7 ms（模式 3）

基本的精度和阻抗范圍
?0.8% 的基本精度與無yu倫比的測量可重復(fù)性
?寬阻抗測量范圍：140 mΩ ～ 4.8 kΩ

更多特性
?SCPI 命令和處理器接口與 4287A 兼容
?小巧的測試頭（與 4287A 的尺寸相同）
?列表測量
?通用 PC連通性（GPIB、LAN 和 USB）

規(guī)格（spec.） 保證性能。除非另有說明，否則所有規(guī)格均適用于 23 °C ± 5 °C 以及儀器開啟后 30 分鐘。規(guī)格包括保護(hù)帶，用于考慮預(yù)期的統(tǒng)計性能分布、測量不確定性以及由于環(huán)境條件導(dǎo)致的性能變化。以下補(bǔ)充信息旨在提供有助于使用該儀器的信息。典型（典型值）不包括保護(hù)帶的平均單元的預(yù)期性能。它不在產(chǎn)品保修范圍內(nèi)。補(bǔ)充性能數(shù)據(jù) （SPD） 表示最有可能出現(xiàn)的參數(shù)的值;預(yù)期的平均值或平均值。它不在產(chǎn)品保修范圍內(nèi)。一般特性或標(biāo)稱（標(biāo)稱）一個通用的描述性術(shù)語，并不意味著性能水平。它不在產(chǎn)品保修范圍內(nèi)。

測量時間的測試條件 E4982A的測量時間在一定程度上受到內(nèi)部操作系統(tǒng)開銷和其他條件的影響，因此很難定義處理器接口時序的規(guī)格。因此，為了您的參考，我們通過定義以下測試條件在表中提供了“SPD"數(shù)據(jù)。中位數(shù)：運行一分鐘測量數(shù)據(jù)的中值 最大值：運行一分鐘測量數(shù)據(jù)的最大值 注 1.儀器的操作系統(tǒng)有時會在測量過程中出現(xiàn)中斷，我們有時會觀察到處理器接口計時的開銷非常大。該表排除了此類特殊情況，因此您有時可以看到表中顯示的最大值數(shù)據(jù)的時間。如果您使用處理器接口的READY_FOR_TRIGGER信號進(jìn)行握手，則無論測量時間漂移如何，您的測試系統(tǒng)都可以繼續(xù)正常工作。2. 如果您的系統(tǒng)與外部設(shè)備通信，您將看到比桌面上的計時結(jié)果更長的時間結(jié)果。3. 在GPIB/LAN/USB系統(tǒng)中使用總線觸發(fā)器而不是處理器接口的情況下，您應(yīng)該自己測量測試周期時間，因為系統(tǒng)性能在很大程度上取決于系統(tǒng)參數(shù)。當(dāng)然，您會從系統(tǒng)軟件開銷中看到更長的測試周期時間。