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德國布魯克D8A X射線衍射儀

一、德國布魯克D8A X射線衍射儀

  德國布魯克D8A X射線衍射儀采用當前的技術，能夠精確地對金屬和非金屬多晶粉末樣品進行物相檢索分析、物相定量分析、基本參數法線形分析分析、晶胞參數計算和固溶體分析、微觀及宏觀應。儀器包括長壽命陶瓷X光管、X射線發生器、高精密測角儀、陣列探測器、計算機控制系統、數據處理軟件、相關應用軟件和循環冷卻水裝置。

二、德國布魯克D8A X射線衍射儀技術參數部分介紹：

1、德國布魯克D8A X射線衍射儀X射線光源部分

2、 X射線發生器部分                        

3、zui大輸出功率：3kW

4、電流電壓穩定度：優于±0.005% （外電壓波動10%）時

5、X射線防護：射線劑量≤0.5 µSv/h

6、德國布魯克D8A X射線衍射儀X光管

7、光管：Cu靶陶瓷X光管

8、 光管尺寸：標準尺寸，能與其他廠家的光管互換

9、 光管功率：2.2 kW                    

10、zui大管壓：60kV

11、zui大管流：80 mA                     

12、光管焦斑：0.4 x 12 mm

13、質保期：4000 小時或2年

14、德國布魯克D8A X射線衍射儀測角儀部分

15、測角儀：采用光學編碼盤定位

16、掃描方式：q/q測角儀，測角儀垂直放置

17、 測角儀半徑：≥200 mm                  

18、 2q轉動范圍：-10°~160°

19、 可讀zui小步長：0.0001°               

20、角度重現性：0.0001°

21、驅動方式：步進馬達驅動+光學編碼器

22、zui高定位速度：不小于1000°/min

23、 索拉狹縫：包括必要的狹縫系統

三、 德國布魯克D8A X射線衍射儀探測器部分：

1、 半導體陣列探測器                  

2、子探測器個數：≥120個

3、 動態范圍：1×109 cps                  

4、 背景：< 0.1 cps

5、 能量分辨率：< 20%

6、 提供的陣列探測器必須滿足常規物相分析，也能夠滿足薄膜反射率、微區衍射、織       構與應力分析。確保在滿足所有應用的條件下不需要來回更換探測器。

7、確保沒有壞子探測器，具有靜態掃描功能，靜態掃描2θ角 ≥3.7度

四、 德國布魯克D8A X射線衍射儀儀器控制和數據采集系統：

1、 計算機，不低于如下配置：DELL計算機：雙核 2.0GHz、1G內存、160GB硬盤、可擦寫光驅，19"液晶顯示器，100M網

2、儀器控制和數據采集軟

3、德國布魯克D8A X射線衍射儀應用軟件：要求提供以下應用分析軟件

4、 物相檢索軟件：含原始數據直接檢索功能

5、 數據庫：的PDF2 卡片光盤

6、物相定量分析：可編程定量分析軟件

7、固溶體類樣品研究分析

8、線形分析軟件：采用基本參數法