當前位置:廣東正業科技股份有限公司>>技術文章>>IGBT內部缺陷檢測之X射線檢測設備
X射線檢測設備可以檢測IGBT內部缺陷問題。IGBT是一種用于功率器件的半導體器件,常常被用于電力電子應用中。在制造和裝配過程中,IGBT可能會出現內部缺陷,如氣泡、裂紋、金屬夾雜等問題,這些缺陷會影響IGBT的性能和穩定性。X射線被廣泛應用于IGBT的非損傷性檢測中,它可以檢測到IGBT內部的缺陷并顯示其位置、大小和形狀。X射線檢測設備可以通過將IGBT置于一個固定的位置并對其進行X射線掃描來檢測內部缺陷。通過在屏幕上顯示X射線圖像,操作人員可以找出缺陷并進行修復或更換。這項檢測可以確保IGBT的品質,并提高設備的性能和可靠性。
X射線檢測設備就能非常直觀的檢測IGBT內部的氣泡或者其他缺陷,而且XRAY檢測是一種無損探傷檢測,不會破壞IGBT就能看到其內部的結構是否有缺陷或異物。正業科技從事X射線檢測設備研發10多年,目前生產的全自動XRAY檢測設備XG5500可用于半導體芯片、IGBT、SMT等缺陷進行無損檢測,可實現檢實現零漏檢、極低誤檢,檢測效率高,可以助力企業提質增效。
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