Zennium XC 型號(hào)電化學(xué)工作站主要技術(shù)參數(shù):
ADC 分辨率
| 32 bits ADC, 5aA |
交流阻抗頻率范圍 | 10μHz--5MHz |
頻率精度 | 0.0025% |
頻率分辨率 | 0.0025%,10000 steps / decade |
最大電流 | ±2A |
應(yīng)用電位范圍 | ±5V/14V |
電壓分辨率 | 2.5nV/7.5nV |
輸入阻抗 | 10TΩ, HIZ(option):1000TΩ |
交流阻抗測(cè)試精度 | ±0.2% @100mΩ --10 MΩ ±2% @1mΩ--100 mΩ or 10 MΩ--10GΩ |
交流擾動(dòng)振幅 | 0-6V 18bit 分辨 |
接地模式 | 接地和浮地 ,浮地可以用于接地的實(shí)驗(yàn)體系,例如高壓釜等 |
IR補(bǔ)償 | 精確的EIS 技術(shù),實(shí)時(shí)自動(dòng)補(bǔ)償,補(bǔ)償范圍0--10MΩ |
恒電位儀整體帶寬 | 6MHz |
Thales-XT 軟件提供高度靈活的在線,可視化測(cè)試和直觀的離線數(shù)據(jù)分析等功能。
功能強(qiáng)大,涵蓋所有應(yīng)用,簡(jiǎn)單易學(xué)
實(shí)驗(yàn)方法科學(xué)分類,易于選擇
清晰排列的參數(shù)列表,方便設(shè)置
實(shí)時(shí)多窗口顯示測(cè)試數(shù)據(jù)
實(shí)時(shí)存儲(chǔ)數(shù)據(jù),避免數(shù)據(jù)丟失
測(cè)試結(jié)果可以圖形格式和TXT格式輸出
快捷圖形按鈕,執(zhí)行簡(jiǎn)單明了
采用拖放方式進(jìn)行放大,縮小,平移
多組數(shù)據(jù)對(duì)比,編輯顏色和圖例等
預(yù)設(shè)多種作圖格式文件以圖形,文本輸出
Thales XT 電化學(xué)工作站測(cè)試軟件:
EIS:恒電位交流阻抗、恒電流交流阻抗、恒電位下的交流阻抗隨時(shí)間變化曲線、恒電流下的交流阻抗隨時(shí)間變化曲線,Mott-Schottky曲線測(cè)試技術(shù)
NFRA 非線性交流阻抗頻響分析
Z-HIT 是一個(gè)具有特別功能的工具,它提供了一個(gè)非常可靠的方法來判斷測(cè)試系統(tǒng)的穩(wěn)態(tài)性并對(duì)非穩(wěn)態(tài)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。
CV/IE: 線性掃描、循環(huán)伏安、多重循環(huán)伏安、階梯伏安、線性極化曲線、陽極極化曲線、塔菲爾曲線、動(dòng)電位、極化曲線、循環(huán)極化、腐蝕電位隨時(shí)間的變化曲線
PVI: 恒電流、恒電位、動(dòng)電流、動(dòng)電位、計(jì)時(shí)電流、計(jì)時(shí)電位、電位、電流階躍
POL 差分脈沖伏安、線性掃描、溶出伏安法
Battcycling: 電池充放電技術(shù)(恒電流,恒功率,恒電阻).在充電或放電過程中測(cè)試EIS。
Capcycling: 電容充放電
GITT PITT 測(cè)試
RRDE,RDE
Sequencer 測(cè)試序列編輯
IR降自動(dòng)補(bǔ)償:精確的EIS 技術(shù),實(shí)時(shí)自動(dòng)補(bǔ)償
Zahner Analysis: 離線分析軟件:交流阻抗等效電路解擬合以及其他電化學(xué)數(shù)據(jù)分析