數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀 型號:ZD-LT-100C
為解決太陽能單晶、多晶少子壽命測量,特按照國標GB/T1553及SEMI MF-1535用高頻光電導(dǎo)法研制出了數(shù)字式少子壽命測試儀。
數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀 該設(shè)備是按照標準GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測定的高頻光電導(dǎo)衰減法”設(shè)計制造。高頻光電導(dǎo)衰減法在我國半導(dǎo)體集成電路、晶體管、整流器件、核探測器行業(yè)已運用了三十多年,積累了豐富的使用經(jīng)驗,經(jīng)過數(shù)次全國十多個單位巡回測試的考驗,證明是一種成熟可靠的測試方法,特別適合于硅塊、硅棒研磨面的少子體壽命測量;也可對硅片進行測量,給出相對壽命值。方法本身對樣品表面的要求為研磨面,制樣簡便。
數(shù)字式
DZ-LT-100C數(shù)字式有以下特點:
1、 可測量太陽能級多晶硅塊、單晶硅棒少數(shù)載流子體壽命。表面無需拋光,直接對切割面或研磨面進行測量。同時可測量多晶硅檢驗棒及集成電路、整流器、晶體管級硅單晶的少子壽命。
2、 可測量太陽能級單晶及多晶硅片少數(shù)載流子的相對壽命,表面無需拋光、鈍化。
3、配備軟件的數(shù)字示波器,液晶屏上直接顯示少子壽命值,同時顯示動態(tài)光電導(dǎo)衰退波形,并可聯(lián)用打印機及計算機。
4、配置兩種波長的紅外光源:
a、紅外光源,光穿透硅晶體深度較深≥500μm,有利于準確測量晶體少數(shù)載流子體壽命。
b、短波長紅外脈沖激光器,光穿透硅晶體深度較淺≈30μm,但光強較強,有利于測量低阻太陽能級硅晶體。
5、測量范圍寬廣
測試儀可直接測量:
a、研磨或切割面:電阻率≥0.3Ω•㎝的單晶硅棒、定向結(jié)晶多晶硅塊少子體壽命,切割片的少子相對壽命。
b、拋光面:電阻率在0.3~0.01Ω•㎝范圍內(nèi)的硅單晶、鍺單晶拋光片。
壽命可測范圍 0.25μS—10ms
產(chǎn)品名稱:電流型紫外線強度變送器 紫外線強度監(jiān)測儀 水中紫外線強度儀 產(chǎn)品型號:UVA4-20mA |
電流型紫外線強度變送器 紫外線強度監(jiān)測儀 水中紫外線強度儀 型號:UVA4-20mA
主要功能
♦ 功能:提供當前紫外線殺菌燈管的對強度值。
技術(shù)參數(shù)
♦ 量 程:5000μW/cm2(可根據(jù)客戶要求定制);
♦ 光譜范圍:210~380nm;
♦ 固定方式:M26×2 (可根據(jù)客戶要求定制);
♦ 設(shè)計壓力:10kgf/cm2 ;
♦ 外 殼:不銹鋼;
♦ 工作電源:DC7.5~35V;
♦ 輸出信號:4~20mA;
♦ 連接電纜:1.5米兩芯屏蔽線(兩線制電流環(huán))。
應(yīng)用領(lǐng)域
♦ 紫外線水處理器(包括清水、中水和污水消毒);
♦ 紫外線空氣殺菌器;
♦ UV固化。
現(xiàn)場調(diào)試
♦ 穩(wěn)定運行 在現(xiàn)場安裝好紫外線消毒器和紫外線強度變送器探頭,并接通進、出水路,接通燈管電源,待燈管工作穩(wěn)定后(15~20分鐘)再行調(diào)節(jié)。
♦ 接入調(diào)節(jié) 直接接入PLC或單片機系統(tǒng)的A/D轉(zhuǎn)換模塊進行調(diào)試即可。
產(chǎn)品名稱: 漏電開關(guān)檢測儀 漏電開關(guān)測試儀 漏電保護器檢測儀 產(chǎn)品型號:5406 |
漏電開關(guān)檢測儀 漏電開關(guān)測試儀 漏電保護器檢測儀 型號: 5406
產(chǎn)品特點
漏電開關(guān)測試儀主要用于測試漏電保護器的漏電動作電流,漏電不動作電流以及漏電動作時間,適用于檢測漏開關(guān)/電源插頭線的導(dǎo)通性,緣,線芯高壓性能。 漏電開關(guān)測試儀可廣泛應(yīng)用于供電部門,農(nóng)電部門,漏電保護器生產(chǎn)廠家,建筑、礦山、機床等行業(yè)的勞動安檢部門以及廣大電工。
技術(shù)參數(shù)
漏電檔位10/20/30/200/300/500mA
故障動作時間zui大1000ms
精度動作電流:±8%
動作時間:0.6±4dgt
過壓保護有
PN/PE判別有
回路檢測有
相位選擇有
工作電壓220V±15%
380V±15%
自動測量有
啟動電壓選擇有
測量方式在線
工作環(huán)境0~60℃
包裝規(guī)格
電源不需要電池
產(chǎn)品凈重575g
產(chǎn)品尺寸163*155*80mm
包裝方式背包包裝
標準外箱容量6PCS
標準外箱尺寸60*36*37.5cm
標準外箱毛重12.5KG