XRF分析是一種快速的、非破壞式的物質測量方法，用于在整個行業范圍內驗證鍍層的厚度和成分。其基本的無損性質，加上快速測量和結構緊湊的臺式儀器等優點，能實現現場分析并立即得到結果。

 

原理：當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子從而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的狀態,當較外層的電子躍遷到空穴時,產生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無輻射效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不被原子內吸收,而是以光子形式放出,便產生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。

 

XRF光譜儀的使用注意事項： 

1、為了保持儀器的良好外觀，需經常對儀器表面做清潔工作，用軟布擦拭灰塵。

2、向樣品腔內放樣品時，一定要注意清潔，不可使樣品塵粒掉入其中，否則會污染X光管和探測器窗口，造成測量失準和探頭損壞。 

3、樣品蓋需要用酒精棉球做好清潔工作。 

4、為使儀器能長期工作正常，需定期對各項參數進行測試，并進行調整。

5、儀器只允許經培訓的人員才能操作，其他人員一律不能操作。 

6、使用、保存和搬動中，要特別小心，以免磕碰、損傷外表、損壞內部線路。