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TP720型-紫外可見近紅外分光光度計(UV-VIS-NIR)
  • TP720型-紫外可見近紅外分光光度計(UV-VIS-NIR)
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貨物所在地:天津天津市

地: 天津市

更新時間:2024-08-19 21:00:06

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TP720型紫外可見近紅外分光光度計(UV-VIS-NIR)可覆蓋UV-VIS-NIR全波段光譜范圍,實現UV-Vis-NIR波段連續掃描,其應用領域廣泛,可測量固體/液體樣本在紫外-可見-近紅外范圍內的特征吸收;可研究玻璃鍍膜樣品吸收/透射或反射光譜;可研究粉末樣品在整個紫外可見近紅外區的吸收譜圖,適合于半導體、光學元件、建筑材料、新型材料等等行業,是功能Z強勁的光譜分析儀器。

 TP720型紫外可見近紅外分光光度計(UV-VIS-NIR)儀器特點:

  1. 采用經典的Czerny-Turner光學結構,其結構簡單、精度高、光譜分辨率良好;
  2. 采用雙光柵、雙接收器的設計,保證了儀器工作波段可覆蓋紫外可見、近紅外區(UV-VIS-NIR)全波段的優勢;
  3. 接收器件均為進口器件,保證了儀器的高性能和穩定度;
  4. 儀器的控制(如光柵轉換、濾光片轉換、接收器轉換、波長掃描等)全部由計算機控制,接口為 USB2.0,儀器的連接簡單,極大的提高了通訊速率;
  5. 狹縫寬度7檔可選,分別是(0.1nm、0.2nm、0.5nm、1.0nm、2.0nm、3.0nm、5.0nm)。用戶可根據實際需要任意選擇。
  6. 全中文操作軟件,功能選擇簡單、易懂。

TP720型紫外可見近紅外分光光度計(UV-VIS-NIR)規格參數:

工作波長范圍 190-2800nm
掃描方式 透過率、吸光度、反射率、能量
波長準確度 ±0.5nm(UV/VIS);±8nm(NIR)
波長重復性 0.3nm(UV/VIS); ±4nm(NIR)
采樣間隔 0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、1.5nm、2nm、5nm、10nm
光度范圍 0.300~2.5A
光度準確度 ±0.3%T(0-*T)
光度重復性 0.2%T
基線平直度 ±0.008A(200-2500nm,預熱30分鐘后)
光譜帶寬 0.2nm-10nm
雜散光 ≤0.2%T(220nm)
外形尺寸 830*600*260mm

TP720型紫外可見近紅外分光光度計(UV-VIS-NIR)軟件功能:
本儀器工作軟件具有豐富的測試分析功能,可進行透過率、吸光度、能量、反射率測量。具有光譜掃描、定點測量、多波長測量的功能。

 

TP720型紫外可見近紅外分光光度計(UV-VIS-NIR)儀器成套性:

紫外可見近紅外分光光度計主機、USB數據線、石英比色皿、擋零塊、應用軟件、配套工具等
* 計算機及打印機(需另配)。

TP720型紫外可見近紅外分光光度計(
UV-VIS-NIR)可選附件:
反射附件、固體樣品測量附件、漫反射樣品測量附件

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