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一鍵式全自動快速橢偏儀 儀器簡介:
新型的全自動薄膜測量分析工具,工業化設計,操作簡單,可在幾秒鐘內完成全自動測量和分析,并輸出分析報告。是用于快速薄膜測量和器件質量控制理想的解決方案。
一鍵式全自動快速橢偏儀 技術參數:
·光譜范圍:450-1000 nm
·多種微光斑自動選擇
·光斑可視技術,可觀測任何樣品表面
·CCD探測器
·自動樣品臺尺寸:200mmX200mm;XYZ方向自動調節; Z軸高度>35mm
·70度角入射
一鍵式全自動快速橢偏儀 主要特點:
·*自動化設計,一鍵式操作,直接報告輸出
·液晶調制技術,測量光路中無運動部件
·CCD探測系統,快速全譜輸出
·多個微光斑尺寸選擇,可視技術
·封閉式樣品倉
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