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TGS 300真空紫外光譜儀產品簡介
TGS300超環面光柵攝譜儀專為研究分析真空紫外光譜而開發設計。TGS300可在像面形成二維平場，配合陣列探測器實現真空紫外光譜范圍內的一次性全譜采集。安裝XY平臺上的標準DN100CF法蘭接口，可以方便地調整和優化陣列探測器的中心波長和聚焦特性。
TGS 300真空紫外光譜儀產品簡介
TGS300超環面光柵攝譜儀專為研究分析真空紫外光譜而開發設計。TGS300可在像面形成二維平場，配合陣列探測器實現真空紫外光譜范圍內的一次性全譜采集。安裝XY平臺上的標準DN100CF法蘭接口，可以方便地調整和優化陣列探測器的中心波長和聚焦特性。
TGS 300真空紫外光譜儀技術特點
單片式光學結構確保光通量zui大化，高光學穩定性。
HJY的超環面光柵技術，全光譜范圍內優異的消像差能力。
超長的40mm光譜長度，橫向滑動CCD測量更寬的光譜，縱向滑動CCD優化成像質量。
光譜覆蓋zui低至10nm，10-30nm具有超高分辨率。
支持超高真空度10-9mbar，可接入同步輻射裝置。
典型應用
紫外和紫外等離子體光譜分析
紫外光源表征
激光高次諧波研究
EUV光源表征
技術指標
| 三塊標準光柵可選 | |
| 2105 gr/mm | 光譜范圍: 9.5 – 32 nm 中心波長: 12nm |
| 450 gr/mm | 光譜范圍: 10 – 110 nm 中心波長: 15nm |
| 290 gr/mm | 光譜范圍: 15.5 – 170 nm 中心波長 : 35nm |
| 光學設計 | HJY超環面消像差光柵 |
| 焦長 | 300 mm |
| 孔徑 | f/20 |
| 分辨率 | 低至0.04nm (*) |
| 波長驅動 | 固定 |
| 高真空 | 10-6 mbar |
| 真空泵法蘭 | DN40 KF |
| Slits | 嵌入式 |
| 陣列探測器法蘭 | DN100CF |
| 可選項： | |
| 狹縫 | 手控或自動 |
| 多光柵切換裝置 | 光柵滑塊可裝載3塊光柵，真空中靈活切換 |
| 超高真空 | 配合DN63CF真空泵法蘭可達10-9 mbar超高真空 |
| (*) 使用2105線/mm光柵和10μm狹縫在波長20nm處測量。 | |
附件
前鏡腔，配備兩塊超環面鏡，實現光源和單色儀之間的光學匹配
后鏡腔，配備兩塊超環面鏡，實現單色儀和樣品室之間的光學匹配
樣品室，可搭載4塊直徑不大于25mm的樣品
偏振插片
制冷機，zui低至4K
真空泵
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