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HORIBA科學儀器事業(yè)部

橢圓偏振光譜儀主要特點和主要用途

時間:2017-6-19 閱讀:2393
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     橢圓偏振光譜儀是本公司自主研發(fā)擁有技術(shù)并集光機電于一體高精度高穩(wěn)定橢圓偏振光譜儀。從儀器狀態(tài)調(diào)整、參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)采集一直到數(shù)據(jù)處理,均通過計算機自動完成,可工作于從紫外至近紅外的寬廣光譜區(qū),波長連續(xù)可調(diào),入射角度從20度到90度內(nèi)手動可調(diào)。
 
    橢圓偏振光譜儀主要適用于科研院所的信息光電子功能薄膜、體材料的光學性質(zhì)和結(jié)構(gòu)特性研究,可被研究材料種類包括:金屬和合金、元素和化合物半導(dǎo)體、絕緣體、超導(dǎo)體、磁性和磁光材料、有機材料、太陽能薄膜、多層薄膜材料、液體材料等。在測量中,可按研究條件同時對入射角和波長進行自動精細掃描,從而增加研究的靈活性,便于用戶獲得更多的光譜信息進行數(shù)據(jù)分析,提高研究的質(zhì)量和可靠性,并實現(xiàn)無接觸無損傷測量。
 
    橢圓偏振光譜儀的性能指標達均已達到同類技術(shù)的先進水平,產(chǎn)品國內(nèi)及海外市場。
 
橢圓偏振光譜儀主要特點
 
    WINXP友好操作界面
    實測光學常數(shù)種類:復(fù)折射率、復(fù)介電函數(shù)、吸收系數(shù)、反射率。
 
橢圓偏振光譜儀主要用途
 
    1.各種功能材料的光學常數(shù)測量和光譜學特性分析;
    2.測量薄膜材料的折射率和厚度;測量對象包括:金屬、半導(dǎo)體、超導(dǎo)體、絕緣體、非晶體、超晶格、磁性材料、光電材料、非線性材料;測量光學常數(shù):復(fù)折射率的實虛部、復(fù)介電常數(shù)的實虛部、吸收系數(shù)a、反射率R。

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