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解析近紅外熒光光譜儀的主要特點(diǎn)
近紅外熒光光譜儀專門用于納米技術(shù)和納米材料的前沿研究，近紅外熒光光譜儀可以檢測(cè)到800-1700nm的近紅外范圍，可選~2μm的多通道檢測(cè)器和~3μm的單通道檢測(cè)器，同時(shí)也可實(shí)現(xiàn)紫外-可見區(qū)熒光光譜測(cè)量。專為單壁碳納米管（SWNTs）設(shè)計(jì)的NanoSizer®軟件，可計(jì)算熒光共振能量傳遞(FRET)和碳管內(nèi)徑分布，并且在微秒時(shí)間內(nèi)就能獲得完整的二維光譜圖，1秒內(nèi)獲得的激發(fā)-發(fā)射三維熒光光譜圖。
近紅外熒光光譜儀的主要特點(diǎn)：
·一秒內(nèi)獲得激發(fā)-發(fā)射三維光譜
·高靈敏度的近紅外InGaAs陣列檢測(cè)器
·高光譜分辨率
·易于實(shí)現(xiàn)SWNTs的定性和定量分析
·可選多種檢測(cè)器適于紫外至近紅外光譜范圍的檢測(cè)需求：
-PMT用于高靈敏度和時(shí)間分辨的測(cè)量
-InGaAs陣列檢測(cè)器用于NIR數(shù)據(jù)的快速采集
-CCD陣列檢測(cè)器用于UV-Vis數(shù)據(jù)的快速采集
·同時(shí)解析量子點(diǎn)
·易于實(shí)現(xiàn)能量轉(zhuǎn)移研究
·模塊設(shè)計(jì)以滿足不同實(shí)驗(yàn)的需求