產品簡介
詳細介紹
XC-100L是一種袖珍型便攜式的顯微測量儀器,對粉末顆粒,表面凹坑、化痕、斷層、涂面厚度等在線質控檢測之用。廣泛應用于輕工、機械、電子、印刷及表面疵病質檢。 |
儀器主要技術規格 |
規格: 1.目鏡: 目鏡放大率:10倍 目鏡測微尺:0-10毫米 zui小分度值:0.1毫米 2. 物鏡: 物鏡放大率:10倍 測量范圍: 1毫米 測量精確度:±0.01毫米 3.系統放大率: 100倍 成套性: 1.測微目鏡10倍: 1只 2.物鏡10倍: 1只 3.調焦鏡架組: 1只 4.電池筒: 1只 總放大率=物鏡倍率×大物鏡倍率×目鏡倍率。 |