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上海菁華紫外可見分光光度計756CRT技術參數

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更新時間:2016-10-07 11:48:24瀏覽次數:1075

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產品簡介

上海菁華紫外可見分光光度計756CRT技術參數:
波長范圍:200-1000nm
波長設定范圍:190-1100nm
波長準確度:±0.5nm
波長重復性:0.2nm
光譜帶寬:2nm
透射比準確度:±0.5%T
透射比重復性:0.2%T 應用軟件:支持
透射比范圍:0.0-125%T

詳細介紹

   稱:紫外可見分光光度計

   號:756CRT

   牌:菁華

   地:上海

 

上海菁華紫外可見分光光度計756CRT
采用低雜散光1200條/mm高性能光柵,C-T式單色器結構,確保儀器的高分辨率、低雜散光、波長的高精度、良好的光度線性。
*的波長控制系統,可自動設置波長,并具有先進的自動修正波長功能。
采用進口的光電轉換器。
除具有光度測試外還具有定量測試功能,采用標準品對照法、標準系數法和線性回歸法來直接測定樣品濃度。

可供物理學、化學、醫學、生物學、藥物學等學科進行科研或供化學工業、食品工業、制藥工業、冶金工業、臨床生化、環境保護部門對各種物質的定量分析用。


上海菁華紫外可見分光光度計756CRT技術參數:

波長范圍:200-1000nm
波長設定范圍:190-1100nm
波長準確度:±0.5nm
波長重復性:0.2nm
光譜帶寬:2nm
透射比準確度:±0.5%T
透射比重復性:0.2%T 應用軟件:支持
透射比范圍:0.0-125%T
吸光度范圍:-0.301-3A
濃度顯示范圍:0-99999
雜散光:≤0.3%T@220nm,360nm
穩定性:±0.002A/小時
配有RS232通訊接口
打印機:配備
應用軟件:支持

756CRT紫外可見分光光度計同系列參數

型 號

波長(nm)

帶寬(nm)

誤差(nm)

漂移

752(手動)

200-1000

4

±2

±0.003A

752(自動)

200-1000

4

±2

±0.002A

754(手動)

200-1000

4

±1

±0.002A

754(自動)

200-1000

4

±1

±0.002A

754PC

190-1100

4

±1

±0.002A

755B(手動)

195-1100

2

±1

±0.002A

755B(自動)

195-1100

2

±1

±0.002A

756

190-1100

2

±0.5

±0.002A

756MC

190-1100

2

±0.5

±0.002A

756CRT

190-1100

2

±0.5

±0.002A

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