TS系列冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber
*冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗功能,實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容;
高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性;
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強,使用壽命長;
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減小;
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命;
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性;
多種可選功能(測試孔、記錄儀、測試電纜等)保證了用戶多種功能和測試的需要;
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果;
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護要求;
*冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能
*溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制;
全程數(shù)據(jù)記錄儀(可選功能)可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯;
每臺電機均配置過流(過熱)保護/加熱器設(shè)置短路保護,確保了設(shè)備運行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性;
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能,使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要;
采用流行的制冷控制模式,可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用,使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證;
*冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗
GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗
GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
主要技術(shù)指標(biāo):
兩箱式高低溫沖擊試驗箱 |
型號 | CTS-50 | CTS-120 | CTS-180 |
HxWxD(mm) | 內(nèi) | 300x460x350 | 500x610x400 | 600x660x450 |
外 | 2250x1200x1950 | 2720x1050x1950 | 2920x1100x2150 |
性能參數(shù) | 高溫室 | 溫度暴露范圍 | ﹢60℃ ~ ﹢200℃ |
預(yù)熱溫度上限 | 200℃ |
升溫時間 | R.T→﹢200℃約40min |
低溫室 | 溫度暴露范圍 | 0 ~ ﹣75℃ |
預(yù)熱溫度下限 | ﹣75℃ |
降溫時間 | R.T→﹣70℃約60min |
提籃 | 溫度范圍 | ﹣65 ~ 150℃ |
溫度波動度 | ≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170﹣1996表示) |
溫度偏差 | ≤±2℃(﹣65℃ ~ ﹢150℃) |
轉(zhuǎn)換時間 | ≤5S |
溫度回復(fù)時間 | ≤5min |
結(jié)構(gòu) | 外箱材質(zhì) | 冷軋鋼板表面噴塑 |
內(nèi)箱材質(zhì) | #304鏡面不銹鋼(1.2mm) |
隔熱材料 | 非危廢類環(huán)保型玻璃纖維保溫層 |
制冷 | 制冷方式 | 風(fēng)冷或水冷 |
制冷機 | 進口壓縮機 |
溫度傳感器 | 鎧裝鉑電阻 |
控制器 | 西門子PLC模塊(含宏展環(huán)境試驗設(shè)備嵌入式PLC控制軟件PlatinumV1.0)+7英寸彩色液晶觸摸控制屏(含宏展環(huán)境試驗設(shè)備嵌入式觸摸屏控制軟件PlatinumV1.0)。 |
數(shù)據(jù)存儲于功能接口 | USB數(shù)據(jù)接口:設(shè)備帶有USB存儲接口,存儲信息包括試驗時間、試驗?zāi)繕?biāo)值和試驗實測值等主要運行參數(shù),存儲格式為.csv格式,此文件可由宏展公司上位機通訊軟件直接生產(chǎn)曲線,該USB接口不支持熱插拔及下載功能,如要用U盤存儲試驗數(shù)據(jù),需一直讓U盤處于正常聯(lián)接狀態(tài)。 TCP/IP通訊接口:試驗箱帶有RJ45數(shù)據(jù)接口,后期如購買上位機通訊功能后(含宏展環(huán)境試驗設(shè)備嵌入式計算機軟件PlatinumV1.0),即可聯(lián)接此接口以實現(xiàn)計算機管理功能,單臺試驗箱支持5臺計算機同時訪問、上位機軟件*大可管理32臺試驗箱。 |
裝機功率(KVA) | 19.7 | 32 | 36 |
電源 | AC380V 50Hz三相四線制+接地線 |
標(biāo)配配置 | 產(chǎn)品使用說明書、試驗報告1份、合格證及質(zhì)量保證書各1份、隔板2層、帶腳輪 |
滿足標(biāo)準(zhǔn) | GJB150.3、GJB150.4、GJB150.5、GB/T2423.1、GB/T2423.2 |
詳細(xì)參數(shù)以對應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格書為準(zhǔn) |
三箱式冷熱沖擊試驗箱 |
型號 | TSL-80A | TSL-150A | TSL-225A | TSL-408A |
TSU-80W | TSU-150W | TSU-225W | TSU-408W |
TSS-80W | TSS-150W | TSS-225W | TSS-408W |
內(nèi)部尺寸(mm) | W | 500 | 600 | 750 | 850 |
H | 400 | 500 | 500 | 600 |
D | 400 | 500 | 600 | 800 |
外形尺寸(mm) | W | 1460 | 1560 | 1710 | 1880 |
H | 1840 | 1940 | 1940 | 2040 |
D | 1500 | 1600 | 1700 | 1900 |
試驗方式 | 氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式 |
性能 | 高溫室 | 預(yù)熱溫度范圍 | ﹢60℃ ~ ﹢200℃ |
升溫速率 | ﹢60→+200℃≤20分鐘 |
低溫室 | 預(yù)冷溫度范圍 | ﹣78-0℃ |
降溫速率 | ﹢20→-75℃≤80分鐘 |
試驗室 | 溫度偏差 | ±2℃ |
溫度范圍 | TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃ TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃ TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃ |
溫度恢復(fù)時間 | 5分鐘以內(nèi) |
試樣擱架承載能力(kg) | 30 |
試樣重量(kg) | 7.5 | 7.5 | 10 | 10 |
注:外形尺寸(不包括外形凸起部分);升溫速率和降溫速率(溫度上升和溫度下降均為試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能);溫度恢復(fù)條件(室溫為+25℃和循環(huán)水溫為+25℃,試樣是塑料封裝集成電路) |
詳細(xì)參數(shù)以對應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格書為準(zhǔn) |
冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber
---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格★可配增加此功能※可配增加LN2功能
試驗規(guī)范 | 駐留溫度(℃) (exposure temp.) | 駐留溫度時間(Min) (exposure time) | 覆歸時間 (recovery time) | 周期 或次數(shù) | 試驗起 始點 | 備注 | 適用機臺型號 TS-(80/150/225/408) |
高溫 | 室溫 | 低溫 | 高溫/低溫 | 室溫 | S | U | L |
MIL-STD-883E (Method No.1010.7) | +85 | +10 | ---- | -55 | 0 | ≧10min ≦15min | ---- | 含駐留時間& 轉(zhuǎn)換時間≦15min | *少 10次 | 低溫或 高溫 | Temperature Cycling (轉(zhuǎn)換時間<1min)
實驗過程若中斷 超過總實驗之1/10 次則實驗須重做 | ◎ | ◎ | ---- |
0 |
+125 | +15 | ◎ | ◎ | ---- |
0 | -10 |
+150 | +15 | ◎ | ◎ | ---- |
0 |
+150 | +15 | -65 | 0 | ◎ | . | ---- |
0 | -10 |
MIL-STD-202F (Method No.107G) | +83 | +3 | -25 | +10 | -55 | 0 | 28g以下 15~30 Min 28~136g 30Min 136g~1.36Kg 60Min 1.36~13.6Kg 120Min 13.6~136Kg 240Min | Max. 5 Min | 5 Min 以內(nèi) | 5 cycle 25 50 100 | 低溫 | Transfer time 不超過5 min | ◎ | ◎ | ◎ |
0 | -3 |
+125 | +3 | -65 | 0 | ◎ | ◎ | ---- |
0 | -5 | -5 |
+125 | +3 | -65 | 0 | ◎ | ◎ | ---- |
0 | -5 |
JIS C 0025 IEC 68-2-14 GB 2423.22 | +70 +85 +100 +125 | ±2 ±2 ±2 ±2 | 室溫 | -5 -10 -25 -40 -55 -65 | ±3 ±3 ±3 ±3 ±3 ±3 | 3hr 2hr 1hr 30min 或無定義則 以3hr定義 | 手動轉(zhuǎn) 移時間 2~3Min | 為駐留時間 之1/10 | 5 cycle 除非有 其它規(guī)格 | 低溫 | Auto Transfer time 不超過30 sec 小試件 Transfer time 不超過10 sec | ★ | ★ | ★ |
◎ | ◎ | ◎ |
◎ | ◎ | ◎ |
◎ | ◎ | ◎ |
|
| ◎ | ◎ | ◎ |
|
| ◎ | ◎ | ---- |
IPC 2.6.7 | +70 | ±2 | ---- | 0 | +0 | 15 Min | ---- | 2 Min 以內(nèi) | 100 cycle | 高溫 (試驗結(jié)束 點在高溫) | Transfer time 不超過2 min | ★ | ★ | ★ |
-0 | -5 |
+85 | +5 | -40 | +0 | ◎ | ◎ | ◎ |
-0 | -5 |
+105 | +5 | -55 | +0 | ◎ | ◎ | . |
-0 | -5 |
+105 | +5 | -65 | +0 | . | . | ---- |
-0 | -5 |
+105 | +5 |
|
| . | . | ---- |
-0 |
IPC 2.6.6 | +85 | +3 | -25 | +10 | -55 | +0 | 30 Min | 10-15 Min |
| 5 cycle |
|
| ◎ | ◎ | ◎ |
-0 | -5 |
+125 | +3 | -5 | -65 | +0 | ◎ | ◎ | ---- |
-0 | -5 |
Bellcore GR-1221-CORE | +70 | ±2 | ---- |
| ≧10min ≦15min | ---- | 含駐留時間 &轉(zhuǎn)換時間≦15min | 500 cycle OR 1000cycle |
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| ◎ | ◎ | ◎ |
|
+80 | ±2 | ◎ | ◎ | ◎ |
|
JESD22 A104-A | +125 | +10 |
| -40 | +0 | ≦15min |
| 含駐留時間 &轉(zhuǎn)換時間≦15min | 抽10次 可接受; 1000次 合格 |
| Temperature Cycling (轉(zhuǎn)換時間<1min) 實驗過程若中斷 超過總實驗之1/10 次則實驗須重做 | ◎ | ◎ | ◎ |
-0 | -10 |
+85 | +10 | -55 | +0 | ◎ | ◎ | . |
-0 |
+125 | +10 |
-0 | -10 |
+150 | +10 |
-0 |
+150 | +10 | -65 | +0 | ◎ | . | ---- |
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