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環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及共性問(wèn)題

閱讀:2014        發(fā)布時(shí)間:2016-7-27

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及共性問(wèn)題 

一、概況

    環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗(yàn)方法,隨著生產(chǎn)力的進(jìn)步、國(guó)民經(jīng)濟(jì)的發(fā)展,環(huán)境試驗(yàn)方法的日臻豐富,相應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芸煽俊⒊掷m(xù)地得到實(shí)施,這就需要有*,性能合格的試驗(yàn)設(shè)備,而要達(dá)到這一要求,就需有一個(gè)統(tǒng)一衡量試驗(yàn)設(shè)備尺度即環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn),以及環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)。

    我國(guó)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)”)宏展儀器及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“方法標(biāo)準(zhǔn)”)起草、發(fā)布、實(shí)施于二十世紀(jì)八十年代中期。貴公司所要的標(biāo)準(zhǔn)都可以去“國(guó)標(biāo)網(wǎng)”上去查一查,那上面有你全部你所需要的資料.我這里就把我們平常的一些參數(shù)供貴公司參考.。

    二、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)

    1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)共有九項(xiàng):

    GB10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件     GB10587-89鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件

    GB10588-89長(zhǎng)霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件     GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

    GB10590-89低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件     GB10591-89高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件

    GB10592-89高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件     GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

    GB11159-89低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件 

    2、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中的共性問(wèn)題

    1)適用范圍

    在上述的九項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)中都明確規(guī)定了本標(biāo)準(zhǔn)適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的所有廠家,對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)所對(duì)應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗(yàn)、型式檢驗(yàn)、質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)時(shí)作為依據(jù)。

    2)適應(yīng)性

    按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)合格的產(chǎn)品,其性能要符合相對(duì)應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的要求,按其檢驗(yàn)要求檢測(cè)合格的產(chǎn)品方可出廠。

    3)操作性

    設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)在貫徹實(shí)施過(guò)程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時(shí),該類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)在設(shè)備制造廠也應(yīng)用較多。

    4)修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的不足之處

    九項(xiàng)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)起草于上世紀(jì)八十年代,隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和需求,修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是必須的。

    3、貫徹執(zhí)行過(guò)程中的注意事項(xiàng)

    1)對(duì)基本環(huán)境條件的要求,綜合在一起主要有下列幾項(xiàng)

    A)溫度:15℃~35℃

    B)相對(duì)濕度:不大于85%RH

    C)大氣壓強(qiáng):86Kpa~106Kpa 

    D)熱輻射:無(wú)陽(yáng)光起直射,無(wú)熱源直接輻射

    E)氣流:無(wú)強(qiáng)烈氣流,需要時(shí)不可直接吹到箱體上

    F)電磁場(chǎng):無(wú)強(qiáng)烈電磁場(chǎng)

    G)三廢:無(wú)高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)

    H)冷卻水源:水溫不大于30℃,水壓控制在0.1~0.3Mpa

    I)加濕水源:電阻率不低于500Ωm

    J)電源:220±22V、380±38V、50±0.5Hz

    2)負(fù)載要求:

    A)負(fù)載品種:一般可用電工、電子產(chǎn)品或其它產(chǎn)品、零部件及絕緣材料等(鹽霧試驗(yàn)除外)

    B)負(fù)載條件:

  •     負(fù)載總質(zhì)量:50~80Kg/m3
  •     負(fù)載總體積:不大于工作室容積的1/5
  •     阻擋主風(fēng)道總面積:不大于主風(fēng)道所處工作室截面積的1/3
  •     鹽霧試驗(yàn)設(shè)備:規(guī)格:50*100*(1~2)mm
  •     種類(lèi):金屬
  •     樣品數(shù):160塊/m2(工作室水平面面積計(jì))

    三、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)(氣候試驗(yàn)設(shè)備)

 1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)共有六項(xiàng):

    GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

    GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

    GB/T5170.8-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備

    GB/T5170.9-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備

    GB/T5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

    GB/T5170.11-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

    2、方法標(biāo)準(zhǔn)的幾個(gè)共同問(wèn)題

    1)標(biāo)準(zhǔn)適用范圍:在六項(xiàng)方法標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了該類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)檢定項(xiàng)目的確定,檢測(cè)儀器的選用,以及檢定條件、測(cè)試點(diǎn)數(shù)量、布點(diǎn)位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。

    2)適應(yīng)性:按方法標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)合格的設(shè)備,可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進(jìn)行相關(guān)的環(huán)境試驗(yàn)。

    3)操作性:本類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)在環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備使用單位應(yīng)用居多,試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)廠應(yīng)用為少。

    3、貫徹執(zhí)行過(guò)程中的幾個(gè)注意點(diǎn):

    1)各分標(biāo)準(zhǔn)使用時(shí)應(yīng)與總則一起使用。

    2)對(duì)于復(fù)合試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定要若干分標(biāo)準(zhǔn)及總則一起使用

    3)檢定條件:由總則規(guī)定,其內(nèi)容與設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)相一致。

    4)負(fù)載要求:由總則規(guī)定,其內(nèi)容按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中規(guī)定保持一致。

    四、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)與檢定方法標(biāo)準(zhǔn)差異辨析

對(duì)照內(nèi)容

設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)

方法標(biāo)準(zhǔn)

適用范圍

產(chǎn)品的出廠檢驗(yàn)及型式檢驗(yàn)與質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)

試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定

環(huán)境條件

具有一致性

負(fù)載條件

有三項(xiàng)要求(鹽霧試驗(yàn)箱例外)

按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中的規(guī)定

檢驗(yàn)項(xiàng)目

對(duì)生產(chǎn)好的產(chǎn)品進(jìn)行綜合性能檢驗(yàn)(包括標(biāo)志、包裝、儲(chǔ)存)

按試驗(yàn)方法要求對(duì)試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行檢驗(yàn)

受檢對(duì)象

生產(chǎn)線上裝配、調(diào)試完成后的產(chǎn)品

外形、結(jié)構(gòu)、標(biāo)志完好控制系統(tǒng)無(wú)明顯缺陷、控制精度符合要求安全裝置功能正常

檢驗(yàn)類(lèi)型

型式檢驗(yàn)、出廠檢驗(yàn)、仲裁檢驗(yàn)

周期檢驗(yàn)

檢驗(yàn)結(jié)果分類(lèi)

合格、不合格、批合格、批不合格

合格、準(zhǔn)用、停用

結(jié)果處理

合格出廠、不合格不準(zhǔn)出廠批不合格、逐臺(tái)檢驗(yàn)質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn),合格續(xù)產(chǎn)不合格停產(chǎn)整頓

合格—發(fā)合格證(或部分合格限使用范圍)
準(zhǔn)用—發(fā)準(zhǔn)用證
停用—發(fā)停用證

    五、設(shè)備極其參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)與試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)的對(duì)應(yīng)選擇

    1、根據(jù)受試產(chǎn)品規(guī)定的試驗(yàn)方法確定環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的種類(lèi),現(xiàn)行設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是一種產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對(duì)應(yīng)一類(lèi)設(shè)備,可作多種試驗(yàn)的復(fù)合試驗(yàn)箱需執(zhí)行多個(gè)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)。

    2、根據(jù)試驗(yàn)方法要求,對(duì)設(shè)備進(jìn)行周期檢定時(shí),可選用一個(gè)或多個(gè)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行檢定。

 3、幾種常用的不同試驗(yàn)方法所需設(shè)備的檢定方法標(biāo)準(zhǔn)

 

試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)

檢定方法標(biāo)準(zhǔn)

代號(hào)

名稱(chēng)

代號(hào)

名稱(chēng)

GB2423.1

電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫

GB5170.2

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.1

電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫

GB2423.22

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法

GB2423.3

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ca:恒定濕熱

GB5170.5

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.4

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱

GB2423.9

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱

GB2423.16

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)J:長(zhǎng)霉

GB2423.17

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka:鹽霧

GB5170.8

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.18

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kb:交變鹽霧

GB2423.19

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)

GB5170.11

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.20

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 Kd:接觸點(diǎn)和連接件硫件氫試驗(yàn)方法

    六、進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)過(guò)程中的幾個(gè)注意點(diǎn)

    1、合理選擇設(shè)備溫濕度范圍及控制精度

    2、注意受試品的體積、重量及擋風(fēng)橫截對(duì)設(shè)備主性能的影響

    3、設(shè)備安置場(chǎng)所環(huán)境條件 高低溫試驗(yàn)箱

    4、適當(dāng)選擇試驗(yàn)的嚴(yán)酷度

    七、結(jié)束語(yǔ)

    通過(guò)對(duì)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)的初步分析,兩類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)各自有其獨(dú)立性,但相互之間又具有一定的關(guān)聯(lián)性。因此,準(zhǔn)確理解兩類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍,熟悉兩類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)內(nèi)容的根本差異,是我們準(zhǔn)確貫徹、切實(shí)執(zhí)行兩類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)的前提。愿我們?cè)诮窈蟮氖聵I(yè)中為貫徹執(zhí)行好這兩類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)而共同努力。

 

附1 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)對(duì)測(cè)試用負(fù)載條件

匯  總  表

 

負(fù)載條件名稱(chēng)

 要求或參數(shù)

 適用標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

 品種

1、電工、電子產(chǎn)品或絕緣材料

2、其他產(chǎn)品、零部件

 GB10586

 GB10588

 GB10589

 GB10590

 GB10591

 GB10592

GB11158

 GB11159

 總質(zhì)量

 (50~80)Kg/m3

 總體積

≤1/5

 Vw(工作室容積)

 阻擋主風(fēng)道面積

 ≤1/3

 Sw(該工作室截面積)

金屬板

 50*100*(1~2)mm

GB10587

 樣品數(shù)量

至少160塊/m2(工作室水平面面積)

 

附2 我國(guó)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中設(shè)備使用基本環(huán)境條件對(duì)照表

環(huán)境條件名稱(chēng)

環(huán)境條件參數(shù)或要求

GB
10586

GB
10587

GB
10588

GB
10589

GB
10590

GB
10591

GB
10592

GB
11158

GB
11159

溫度

15℃~35℃

相對(duì)濕度

≦85%

大氣壓強(qiáng)

85Kpa~
106Kpa

熱輻射

無(wú)陽(yáng)光直射到箱體,無(wú)熱源越冬輻射箱體

氣流

箱體周?chē)鸁o(wú)強(qiáng)烈氣流,需用時(shí),不可直接吹到箱體

電磁場(chǎng)

周?chē)鸁o(wú)強(qiáng)烈電磁場(chǎng)

三廢影響

無(wú)高深度粉塵及腐蝕性物質(zhì)(氣、液、固體)

冷卻水源

溫度不大于30℃,水壓為0.1~0.3Mpa

加濕水泵

電阻率不低于50Ω.M

電源

電壓:220±22V/380±38V,頻率:50±0.5Hz

 

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