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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
閱讀：1635 發(fā)布時間：2011-5-23
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
| 標(biāo)準(zhǔn)簡介 |
| 本部分規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》、GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》和GB/T 2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化》所用試驗設(shè)備的檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。 本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６。與ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：———標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備”； ———所有用詞“檢定”更改為“檢驗”； ———增加了“術(shù)語和定義”一章； ———增加了“溫度波動度”檢驗項目； ———增加了“溫度均勻度”檢驗項目； ———增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗項目； ———增加了“溫度指示誤差”檢驗項目； ———增加了“溫度過沖量”檢驗項目； ———增加了“溫度過沖恢復(fù)時間”檢驗項目； ———增加了“噪聲”檢驗項目； ———刪除了“相對濕度”檢驗項目； ———在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k＝２）的要求 ———增加了“檢驗負(fù)載”一章； ———修改了“溫度變化速率”的計算方法； ———測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)； ———刪除了“檢定過程中的處理”部分； ———附錄Ａ“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”； ———刪除了附錄Ｂ “溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。 |
| 前言 |
| GB/T5170目前包含以下幾部分: ---GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則 ---GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備 ---GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備 ---GB/T5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 鹽霧試驗設(shè)備 ---GB/T5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 太陽輻射試驗設(shè)備 ---GB/T5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備 ---GB/T5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備 ---GB/T5170.13-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用機(jī)械振動臺 ---GB/T5170.14-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用電動振動臺 ---GB/T5170.15-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動（正弦）試驗用液壓振動臺 ---GB/T5170.16-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機(jī) ---GB/T5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備 ---GB/T5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備 ---GB/T5170.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動（正弦）綜合試驗設(shè)備 ---GB/T5170.20-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗設(shè)備 本部分是GB/T5170的第2部分。 本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化: ---標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備更改為電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備; ---所有用詞檢定更改為檢驗; ---增加了術(shù)語和定義一章; ---增加了溫度波動度檢驗項目; ---增加了溫度均勻度檢驗項目; ---增加了每5min溫度平均變化速率檢驗項目; ---增加了溫度指示誤差檢驗項目; ---增加了溫度過沖量檢驗項目; ---增加了溫度過沖恢復(fù)時間檢驗項目; ---增加了噪聲檢驗項目; ---刪除了相對濕度檢驗項目; ---在檢驗用主要儀器及要求一章中,給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k=2）的要求; ---增加了檢驗負(fù)載一章; ---修改了溫度變化速率的計算方法; ---測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù); ---刪除了檢定過程中的處理部分; ---附錄A測量記錄表格示例更改為檢驗項目的選擇; ---刪除了附錄B 溫度波動度、溫度均勻度檢定方法。 附錄A 為規(guī)范性附錄。 本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（SAC/TC8）提出并歸口。 本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。 本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。 本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為: ---GB/T5170.2-1985,GB/T5170.3-1985,GB/T5170.4-1985; ---GB/T5170.2-1996。 |
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用戶的滿意是我們服務(wù)的宗旨，完善的售后服務(wù)使您解除一切后顧之憂，我們堅信一個好的企業(yè)賣出去的不僅僅是一臺好的產(chǎn)品，更重要的是良好的服務(wù)。
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紫外光耐氣候試驗箱;紫外線加速耐候試驗機(jī);高低溫交變濕熱箱;可程式恒溫恒濕試驗機(jī);溫濕度檢定箱;高低溫恒溫試驗箱;高低溫沖擊試驗箱; 蓄溫式冷熱沖擊試驗機(jī);步入式環(huán)境實驗室;步入式恒溫恒濕試驗室;精密烘箱;鼓風(fēng)干燥箱;鹽水噴霧試驗機(jī);模擬運輸試驗機(jī);跌落試驗機(jī);蒸氣老化試驗機(jī);快速溫變應(yīng)力篩選試驗機(jī)[ESS];其它環(huán)境試驗設(shè)備
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