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閱讀：2974 發布時間：2018-8-2

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GB/T 5170.9-2008標準介紹

GB/T 5170.9-2008是關于《電工電子產品環境試驗設備檢驗方法太陽輻射試驗設備》的標準。

GB/T 5170的本部分規定了太陽輻射試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、拉驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。

本部分通用于對GB/T 2423.24《電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射》所用試驗設備的檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。

本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。

GB/T 5170目前包含以下凡部分：

-GB/T5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法總則

-GB/T 5170.2--2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備

-GB/T5170.5- 2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備

-GB/T 5170. 8-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法鹽霧試驗設備

-GB/T 5170. 9-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法太陽輻射試驗設備

-GB/T5170. IO-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設備

-GB/T5170. 11-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法腐蝕氣體試驗設備

-GB/T 5170. 13 - 2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法振動(正弦)試驗用機械振動臺

-GB/T 5170. 14-1985 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法振動(正弦)試驗用電動振動臺

-GB/T5170. 10-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法振動(正弦)試驗用液壓振動臺

-GB/T5170.16-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法穩態加速度試驗用離心機

-GB/T 5170. 17-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜臺順序試驗設備

-GB/T 5170.18-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法溫度/濕度組臺循環試驗設備

-GB/T 5170,.19-2005 電工電子產品環境試驗設備基率參數檢定方法溫度/振動(正弦)綜合試驗設備

-一GB/T 5170.20--2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法水試驗設備

本部分是GB/T5170的第9部分。

▼GB/T 5170.9-2008第三方檢測機構

GB/T 5170.9-2008PDF資料

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