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GB-PCB

閱讀:1873        發布時間:2016-12-29
GB-PCB
項目規范條件規范名稱(中文)
1GB 4943-1995信息技術設備(包括電氣事務設備)的安全
2GB/T 12629-1990限定燃燒性的薄覆銅箔環氧玻璃布層壓板 (制造多層印刷電路板用)
3GB/T 12630-1990一般用途的薄覆銅箔環氧玻璃布層壓板 (制造多層印刷電路板用)
4GB/T 12631-1990印刷導線電阻測試方法
5GB/T 13555-1992印刷電路用撓性覆銅箔聚酰亞胺薄膜
6GB/T 13556-1992印刷電路用撓性覆銅箔聚脂薄膜
7GB/T 13557-1992印刷電路用撓性覆銅箔材料試驗方法
8GB/T 1360-1998印刷電路網格體系
9GB/T 14708-1993撓性印刷電路用涂膠聚酯薄膜
10GB/T 14709-1993撓性印刷電路用涂膠聚酰亞胺薄膜
11GB/T 16261-1996印刷電路板總規范
12GB/T 16315-1996印刷電路用限定燃燒性的覆銅箔聚酰亞胺玻璃布層壓板
13GB/T 16317-1996多層印刷電路用限定燃燒性的薄覆銅箔聚酰亞胺玻璃布層壓板
14GB/T 2036-1994印刷電路術語
15GB/T 4588.10-1995印刷電路板 第10部分: 有貫穿連接的剛撓雙面印刷電路板規范
16GB/T 4588.1-1996無金屬化孔單雙面印刷電路板分規范
17GB/T 4588.2-1996有金屬化孔單雙面印刷電路板分規范
18GB/T 4588.3-1988印刷電路板設計和使用
19GB/T 4588.4-1996多層印刷電路板 分規范
20GB/T 4677.10-1984印刷電路板可焊性測試方法
21GB/T 4677.11-1984印刷電路板耐熱沖擊試驗方法
22GB/T 4677.1-1984印刷電路板表層絕緣電阻測試方法
23GB/T 4677.12-1988印刷電路板互連電阻測試方法
24GB/T 4677.13-1988印刷電路板金屬化孔電阻的變化 熱循環測試方法
25GB/T 4677.14-1988印刷電路板蒸汽-氧氣加速老化試驗方法
26GB/T 4677.15-1988印刷電路板絕緣涂層耐溶劑和耐焊劑試驗方法
27GB/T 4677.16-1988印刷電路板一般檢驗方法
28GB/T 4677.17-1988多層印刷電路板內層絕緣電阻測試方法
29GB/T 4677.18-1988多層印刷電路板層間絕緣電阻測試方法
30GB/T 4677.19-1988印刷電路板電路完善性測試方法
31GB/T 4677.20-1988印刷電路板鍍層附著性試驗方法 摩擦法
32GB/T 4677.21-1988印刷電路板鍍層孔隙率測試方法 氣體暴露法
33GB/T 4677.2-1984印刷電路板金屬化孔鍍層厚度測試方法 微電阻法
34GB/T 4677.22-1988印刷電路板表面離子污染測試方法
35GB/T 4677.23-1988印刷電路板阻燃性能測試方法
36GB/T 4677.3-1984印刷電路板拉脫強度測試方法
37GB/T 4677.4-1984印刷電路板抗剝強度測試方法
38GB/T 4677.5-1984印刷電路板翹曲度測試方法
39GB/T 4677.6-1984金屬和氧化覆蓋層厚度測試方法 截面金相法
40GB/T 4677.7-1984印刷電路板鍍層附著力試驗方法 膠帶法
41GB/T 4677.8-1984印刷電路板鍍涂覆層厚度測試方法 β反向散射法
42GB/T 4677.9-1984印刷電路板鍍層孔隙率電圖像測試方法
43GB/T 4721-1992印刷電路用覆銅箔層壓板通用規則
44GB/T 4722-1992印刷電路用覆銅箔層壓板試驗方法
45GB/T 4723-1992印刷電路用覆銅箔酚醛紙層壓板
46GB/T 4724-1992印刷電路用覆銅箔環氧紙層壓板
47GB/T 4725-1992印刷電路用覆銅箔環氧玻璃布層壓板
48GB/T 4825.1-1984印刷電路板導線局部放電測試方法
49GB/T 4825.2-1984印刷電路板導線載流量測試方法
50GB/T 5489-1985印刷電路板制圖
51GB/T 7613.1-1987印刷電路板導線耐電流試驗方法
52GB/T 7613.2-1987印刷電路板表層耐電壓試驗方法
53GB/T 7613.3-1987印刷電路板金屬化孔耐電流試驗方法
54GB/T 9315-1988印刷電路板外形尺寸系列

■其它類

項目規范條件規范名稱(中文)規范名稱(英文)適用規范
1GB/T 1772-1979電子元器件失效率試驗方法Determination of failure rate of electronic elements and components 
2GB/T 2689.1-1981恒定應力壽命試驗和加速壽命試驗方法總則Constant stress life tests and acceleration life tests--General rules 
3GB/T 4166-1984電子設備用可變電容器的試驗方法Methods of test of variable capacitors in electronic equipmentIEC 60418-1-81
4GB/T 4619-1996液晶顯示器件測試方法Measuring methods for liquid crystal display devices 
5GB/T 4677.1-1984印刷電路板表層絕緣電阻測試方法Test method of surface insulation resistance for printed boardsIEC 60326-2-76
6GB/T 4677.2-1984印刷電路板金屬化孔鍍層厚度測試方法 微電阻法Micro-resistance test method of plating thickness of platedthrough holes for printed boardsIPC TM-650
7GB/T 4677.3-1984印刷電路板拉脫強度測試方法Test methods of pull strength for printed boardsIEC 60326-2-76
8GB/T 4677.4-1984印刷電路板抗剝強度測試方法Test methods of peel strength for printed boardsIEC 60326-2-76
9GB/T 4677.5-1984印刷電路板翹曲度測試方法Test methods of platness for printed boardsIPC D-300
10GB/T 4677.10-1984印刷電路板可焊性測試方法Test method of solderability for printed boardsIEC 60068-2-20C
11GB/T 4677.11-1984印刷電路板耐熱沖擊試驗方法Test methods of thermal shock for printed boardsIEC 60326-2-76
12GB/T 4677.12-1988印刷電路板互連電阻測試方法Test method of interconnection resistance for printed boardsIEC 60326-2-76
13GB/T 4677.13-1988印刷電路板金屬化孔電阻的變化 熱循環測試方法Test method of change in resistance of plated-through holes--Thermal cycling for printed boardsIEC 60326-2A-80
14GB/T 4677.14-1988印刷電路板蒸汽-氧氣加速老化試驗方法Test method of steam/oxygen accelerated ageing of printed boardIEC 60326-2A-80
15GB/T 4677.17-1988多層印刷電路板內層絕緣電阻測試方法Test method for insulation resistance within inner layers of multilayer printed boardsIEC 60326-2-76
16GB/T 4677.18-1988多層印刷電路板層間絕緣電阻測試方法Test method for insulation resistance between layers of multilayer printed boardsIEC 60326-2-76
17GB/T 7613.1-1987印刷電路板導線耐電流試驗方法Test method for current proof of conductors on printed boards 
18GB/T 7613.2-1987印刷電路板表層耐電壓試驗方法Test methods for voltage proof of surface layers on printed boards 
19GB/T 12631-1990印刷導線電阻測試方法Test method for resistance of conductor of printed boardsIEC 60326-2-76
20GB/T 12848-1991扭曲向列型液晶顯示器件總規范 (可供認證用)Generic specification of twisted nematic liquid crystal display devices 
21GB/T 15427-1994彩色顯示管測試方法Methods of measurement of colour display tubes 

    宏展科技擁有一個專業從事環境試驗設備研發的科研機構,具備成熟的環試研制手段與試驗室,聚集了行業內一批的各類人才和專家,強大的研發團隊著國內環試技術發展方向.現目前公司具有自主知識產權的高低溫試驗箱高低溫濕熱試驗箱快速溫度變化試驗箱冷熱沖擊試驗箱、三綜合試驗箱、高低溫低氣壓試驗箱太陽輻射試驗箱、工業烤箱以及步入式高低溫濕熱試驗箱和高風速淋雨試驗箱等氣候環境試驗設備及訂制產品處于國內、高水準。 

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