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新型X熒光貴金屬檢測儀的性能優勢
超高分辨率，世界*：
采用世界上好的SDD硅漂移探測器 ，分辨率為139±5ev ，而常規的Si-PIN探測器，分辨率為160±5eV， 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。
超高度，性能優：
使用25mm 2大面積鈹窗探測器，大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數字多道分析器技術，提高分析速度，總體提高系統處理能力，計數率大可達8萬，比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
超清晰攝像頭，定位：
采用新型工業級相機，樣品圖像更加清晰，輕松實現定位。
小準直器，輕松實現精小部位測試：
提供多種準直器，直徑小達0.2mm，可輕松實現精小部位的測試，同時可根據測試需求電動切換準直器，使測量更加輕松更加。
一鍵式智能式操作，省去選曲線煩惱：
FP法的完整使用，只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線，操作一步到位。
新型X熒光貴金屬檢測儀的技術參數
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達ppm級
分析含量一般為ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
多次測量重復性可達0.02％（含量96％以上）
工作穩定性為0.05％（含量96％以上）
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：139±5eV
新型X熒光貴金屬檢測儀的儀器配置
移動樣品平臺
信噪比增強器
SDD探測器
數字多道分析系統
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
質量：45Kg
新型X熒光貴金屬檢測儀的應用領域
，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
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