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EDX 3000 PLUSX熒光貴金屬檢測儀性能優(yōu)勢
超高分辨率,世界*:
采用世界上好的SDD硅漂移探測器 ,分辨率為139±5ev ,而常規(guī)的Si-PIN探測器,分辨率為160±5eV, 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。
超高度,性能優(yōu):
使用25mm 2大面積鈹窗探測器,大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數(shù)字多道分析器技術(shù),提高分析速度,總體提高系統(tǒng)處理能力,計數(shù)率大可達(dá)8萬,比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
超清晰攝像頭,定位:
采用新型工業(yè)級相機(jī),樣品圖像更加清晰,輕松實現(xiàn)定位。
小準(zhǔn)直器,輕松實現(xiàn)精小部位測試:
提供多種準(zhǔn)直器,直徑小達(dá)0.2mm,可輕松實現(xiàn)精小部位的測試,同時可根據(jù)測試需求電動切換準(zhǔn)直器,使測量更加輕松更加。
一鍵式智能式操作,省去選曲線煩惱:
FP法的完整使用,只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線,操作一步到位。
EDX 3000 PLUSX熒光貴金屬檢測儀的技術(shù)參數(shù)
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
分析檢出限可達(dá)ppm級
分析含量一般為ppm到99.99%
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
多次測量重復(fù)性可達(dá)0.02%(含量96%以上)
工作穩(wěn)定性為0.05%(含量96%以上)
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率:139±5eV
EDX 3000 PLUS的儀器配置
移動樣品平臺
信噪比增強(qiáng)器
SDD探測器
數(shù)字多道分析系統(tǒng)
高低壓電源
大功率X光管
計算機(jī)及噴墨打印機(jī)
外觀尺寸: 550×416×333mm
樣品腔尺寸:460×298×98mm
質(zhì)量:45Kg
EDX 3000 PLUS的應(yīng)用領(lǐng)域
,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
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