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上海榮計(jì)達(dá)儀器科技有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第14年

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高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠家

參   考   價(jià): 77000

訂  貨  量: ≥1 件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)GDC-4027

品       牌榮計(jì)達(dá)儀器

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

產(chǎn)品資料下載

所  在  地上海市

更新時(shí)間:2024-11-19 14:17:56瀏覽次數(shù):537次

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應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子,交通,汽車,電氣
高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠家用于測(cè)試材料瞬間高溫至低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的物理變化。適用于金屬、塑料、橡膠、電子機(jī)電產(chǎn)品、航空航天、能源材料、醫(yī)療化工等材料行業(yè)模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)

高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠家產(chǎn)品用途:

高低溫沖擊試驗(yàn)箱用于測(cè)試材料瞬間高溫低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的物理變化。適用于金屬、塑料、橡膠、電子機(jī)電產(chǎn)品、航空航天、能源材料、醫(yī)療化工等材料行業(yè)模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)

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高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠家特點(diǎn):

1、采用氣動(dòng)控制,提籃在高低溫室內(nèi)切換轉(zhuǎn)移,

2、轉(zhuǎn)換時(shí)間短,溫度恢復(fù)時(shí)間短,溫變速度快,

3、采用兩箱法,新一代外觀設(shè)計(jì),整體結(jié)構(gòu)緊湊,體積小,提高了工作室的溫度均勻性。

4、既可作冷熱沖擊試驗(yàn),也可以做單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用。

5、備有高檔萬向滾輪,方便在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)移動(dòng)。

6、真空雙層加熱觀察窗,自帶照明

7、多數(shù)據(jù)接口,SD卡儲(chǔ)存,USB輸出,電腦APP遠(yuǎn)程操作。

技術(shù)參數(shù)

1、提籃有效容積 27L

2、規(guī)格尺寸外寬深高:750×2100×1900mm,內(nèi)520×600×600mm

3、提籃尺寸:300×300×300mm

4、高溫預(yù)溫度范圍60℃~+180℃

5、低溫預(yù)溫度范圍-10℃~-60℃

6、溫度沖擊范圍-40℃~+120℃

7、提籃轉(zhuǎn)換時(shí)間≤10S

8、溫度恢復(fù)時(shí)間≤5min

9、溫度波動(dòng)度≤±0.5℃

10、溫度均勻度≤2℃

11、溫度偏差≤±2℃

12、高溫預(yù)熱時(shí)間:20℃~180℃≈30min、

13、低溫預(yù)冷時(shí)間:20℃~-60℃≈75min

14、總功率≈12kw

15、運(yùn)行功率≈8KW

16使用電壓AC220   50Hz 

規(guī)格

提籃尺寸

外形尺寸

27L

300×300×300

750×2100×1900

80L

400×400×500

1200×2500×1800

150L

500×500×600

1500×2600×1850

210L

600×500×700

1700×2650×1900

510L

800×800×800

2500×3200×2100

1000L

1000×1000×1000

3000×3500×2100

溫度參數(shù)

高溫預(yù)溫度范圍

60℃~+200℃

低溫預(yù)溫度范圍

-10℃~-80℃

沖擊范圍

-40、-50、-65℃~120、150℃ 按要求選定

溫度恢復(fù)時(shí)間

≤5min

溫度波動(dòng)度

≤±0.5℃

溫度均勻度

≤2℃

溫度偏差

≤±2℃

提籃運(yùn)行

運(yùn)動(dòng)方式

氣動(dòng)

提籃轉(zhuǎn)換時(shí)間

≤10S

安全保護(hù)

 

漏電、短路、超溫、電機(jī)過熱、壓縮機(jī)超壓、過載、過電流保護(hù)/控制器停電記憶

滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法

GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度交變)

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)

GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:低溫試驗(yàn)

GJB150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)


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