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產品簡介
詳細介紹
產品介紹：
消除背面反射光
采用特殊光學系，消除背面反射光。不必進行背面的防反射處理，可正確測定表面的反射率。
可測定微小領域的反射率
用對物鏡對焦于被測面的微小區域（φ60μm），可測定鏡片曲面及鍍膜層脫落。
測定時間短
使用Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測定，可迅速實現再現性很高的測定。
ＸＹ色度圖、L*a*b*測定可能
以分光測定法為基準，從分光反射率情況可測定物體顏色。
Hard Coat（高強度鍍膜）膜厚測定可能
用干涉光分光法，可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚（單層膜）。
主要用途
· 各種透鏡（眼鏡透鏡、光讀取頭鏡片等）
· 反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定（單層膜）
與原產品的主要區別
· 采用全新的ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ框架及設計，提高了操作性能。
· 受臺Ｚ方向的移動范圍從35mm（原產品）擴大到了85mm。
· 電源規格可對應AC100V以及AC220V。 （請您在下訂單時注明電源規格。）
· 優化了軟件的功能。（可顯示10次測定的功能等）
· XY受臺移動方向增加了比例尺。
· 更換鹵燈時不需調整燈的位置。
· ＰＣ與Interface采用了ＵＳＢ式連接。
產品規格
| 測定波長 | 380nm～780nm |
| 測定方法 | 與參照試料的比較測定 |
| 被測物N.A. | 0.12（使用10×對物鏡時） 0.24（使用20×對物鏡時） ※與對物鏡的N.A不同 |
| 被測物W.D. | 10.1mm（使用10×對物鏡時） 3.1mm（使用20×對物鏡時） |
| 被測物的曲率半徑 | -1R～-∞、+1R～∞ |
| 被測物的測定范圍 | 約φ60μm（使用10×對物鏡時） 約φ30μm（使用20×對物鏡時） |
| 被測物再現性 | ±0.1%以下（2σ）（380nm～410nm測定時） ±0.01%以下（2σ）（410nm～700nm測定時） |
| 表示精度 | 1nm |
| 測定時間 | 數秒～十數秒（因取樣時間各異） |
| 光源規格 | 鹵燈 12V100W |
| 裝置重量 | 本體：約20kg（電腦、打印機除外） 光源用電源：約3kg、控制器：約8kg |
| 裝置尺寸 | 本體：300（W）×550（D）×570（H）mm 光源用電源：150（W）×250（D）×140（H）mm 控制器盒：220（W）×250（D）×140（H）mm |
| 電源規格 | 光源用電源：100V （2.8A）/220V AC 控制器盒：100V（0.2A）/220V AC |
| 使用環境 | 水平且無振動的場所 溫度：23±5℃ 濕度：60％以下、無結露 |
| 軟件 | ■測定參數設定 保存環境文檔、可讀取 ■分光反射率測定 設定參考值（固定值、分散式、可選擇文檔數據） 取樣時間設定 判定是否合格 波長方向刻度 ■物體顏色測定 ＸＹ色度圖、L*a*b*色度圖 標準光源設定（A、B、C、D65） 視野設定（2°視野、10°視野） ■膜厚（單層膜）測定 鍍膜材料折射率 |
| *作為特別訂貨，可對應測定波長為440nm～840nm。 |
· 如規格及外觀發生變更恕不另行通知，敬請諒解。