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谷物外觀品質分析儀報價谷物外觀品質分析儀報價型號:KVS-GW1庫號：M178016   谷物外觀品*質分析儀型號：KVS-GW1

技術參數*1檢測對象：小麥、玉米、稻谷、大豆；*2樣品類型：凈糧、半凈糧；*3檢測時間：≤200秒（100g樣品）；

*4檢測方法：振動送料，玻璃轉盤逐粒檢測，高清圖像采集，保留樣品原始狀態，對樣品無損壞。正反圖像自動配準，將正反面觀測到的圖像組合成完整谷物圖像，自動完成正反面缺陷特征組合，后通過深*度學習算法分析，得出每粒樣本的不完善分類結果；

5檢測項目：小麥可檢測雜質和不完善粒（蟲蝕粒、破損粒、生芽粒、生霉粒、病斑粒、黑胚粒、赤霉粒）；

玉米可檢測雜質和不完善粒（蟲蝕粒、破損粒、生芽粒、生霉粒、熱損*傷粒、病斑粒）以及霉變粒；

稻谷可檢測雜質和谷外糙米率、出糙率、整精米率、黃粒米率；

大豆可檢測雜質和完整粒、蟲蝕粒、破損粒、生芽粒、生霉粒、病斑粒、熱損*傷粒、未熟粒。

*6檢測結果：包括正常粒和不完善粒各分類別的質量、粒數，不完善粒總的和各分類別占原糧的質量比和粒數比；

7擴展接口：RS485，RS232、HDMI、USB3.1、網口、串口，可外接打印機；

*8擴展性：支持自動化改造和指標定制需求；

9數據處理與存儲：能完成檢測數據的自動存儲和查詢，存儲空間不低于500GB；

10檢測軟件：可以安裝在內置嵌入式操作系統或外置電腦操作系統上；

*11軟件：可提供小麥、玉米、稻谷、大豆等多個檢測模塊并提供相關模塊的軟件；

*12提供分類展示功能，按正常粒、蟲蝕粒、破損粒、生芽粒、生霉粒和病斑粒等類別，展示對應的樣品原始圖像；

13提供歷史檢測記錄的查詢和打印功能；

*14提供歷史檢測記錄的快捷導出功能，插上U盤，即可一鍵導出；

15提供一鍵開關機功能；

16儀器具有缺料自動停止功能，當設定時間內系統沒有檢測到物料時，設備自動停止工作；

*17儀器具備AI深*度學習功能，不同地區各種類樣本對不完善粒認定有一定差別時，儀器可利用少量樣本進行快速學習達到新的質檢標準并生成存儲檢測模型；

18適用性：具有抗振動環境適用性，正常車載運輸不影響儀器檢測精度；

*19準確性：≤1%；

*20重復性：≤0.5% ；

21顯示器：21.5寸；

22處理器：NVIDIA Jetson AGX Xavie；r

*23高性能CPU ：8-Core Carmel ARM V8.2 64-Bit CPU, 8MB L2 + 4MB L3；

*24高性能GPU：512-Core Volta GPU with 64 Tensor Cores；

*25內置上下兩套清理系統，保證玻璃轉盤的潔凈度；

*26相機類型：線陣相機；

*27具有改判功能，可以實現人工修正數據；

*28內置特制軌道修正器，保證樣品在相機的拍攝范圍內；

*29內置特制自動喂料器，保證樣品下料的均勻度；

30功率：800W；

31噪音：75dB；

32工作溫度：-10℃ ~ 40℃；

33濕度：≤85%RH；

34電源：AC220V±20V，50HZ/60HZ；

35機器尺寸：800mm*600mm*900mm;