比表面分析儀是用來檢測顆粒物質比表面積的設備,而比表面積測試方法主要包括動態色譜法和靜態容量法,其中動態色譜法是將待測粉體樣品裝在U型的樣品管內,使含有一定比例吸附質的混合氣體流過樣品,根據吸附前后氣體濃度變化來確定被測樣品對吸附質分子的吸附量;而靜態法根據確定吸附量的方法的不同分為重量法和容量法;重量法是根據吸附前后樣品重量變化來確定被測樣品對吸附質分子的吸附量,由于分辨率低、準確度差、對設備要求很高等缺陷已很少使用;容量法是將待測粉體樣品裝在一定體積的一段封閉的試管狀樣品管內,向樣品管內注入一定壓力的吸附質氣體,根據吸附前后的壓力或重量變化來確定被測樣品對吸附質分子的吸附量。 現在上比表面積分析儀的使用已經非常廣泛,在國內也逐步得到了認識,因此涌現出了好多的廠商,然而企業能夠持續發展來源于它持續的創造力。
創新思成的表面張力儀TX-500C型張力測量系統,中央控制系統可控制8-16個測量觀察窗,觀察窗的轉速和溫度可控制,視頻光學系統由計算機控制左右移動追蹤液滴采集圖像,并可定時存儲液滴圖像并計算界面張力值、繪制時間與界面張力的曲線,極大地提高了測量準確性和不同觀察窗口間的一致性,可*消除人為的讀值誤差,大大降低科研人員的工作強度。
TX-500C型張力測量系統可以對大量的樣品同時進行測量,快速獲得測量數據,是單臺機型測量方式不能比擬的。
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