x射線熒光鍍層測厚儀技術參數

小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
一次可同時分析多達五層鍍層
度適應范圍為15℃至30℃
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
分析含量一般為2ppm到99.9%
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg

x射線熒光鍍層測厚儀性能優勢

采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

x射線熒光鍍層測厚儀產品配置

一、硬件：主機壹臺，含下列主要部件： 
(1)   X光管                  (2) si-pin探測器
(3) 信號檢測電子電路        (4) 高精度二維移動平臺
(5) 高清晰攝像頭            (6)高低壓電源
(7)  開放式樣品腔            (8） 雙激光定位裝置
(9)  鉛玻璃屏蔽罩