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當前位置:上海雙旭電子有限公司>>無損檢測儀表>>涂層測厚儀>> MP30E-S涂層測厚儀MP20E-S
產(chǎn)品型號MP30E-S
品 牌ElektroPhysik/德國EPK
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時間:2024-07-23 18:48:17瀏覽次數(shù):1392次
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涂層測厚儀MP20E-S的詳細介紹
u 創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術(shù)提升了測量的精確性
u 測量范圍達15mm,可更換F、N或FN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用
u FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯
MINITEST 700優(yōu)點一覽:
? SIDSP使測量不受干擾,測值更加精確
? 可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
? FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
? 溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
? 生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高精確度的特征曲線
? 大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
? 讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
? 超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
? 菜單指引操作,25種語言可選
? 帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
可下載更新軟件
標準配置:
涂層測厚儀MP20E-S
? 帶塑料手提箱
? MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
? 或MINITEST 730(外置探頭)
? 或MINITEST740主機(不含探頭,有各種探頭可選)
? 校準套裝含校準片和零板
? 操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語
? 2節(jié)AA電池
推薦配件:
F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
主 機
涂層測厚儀|德國EPK MiniTest 730 F-15|
型號 特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探頭類型 | 內(nèi)置探頭 | 外置探頭 | 內(nèi)置外置可換 |
數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 | 10 | 100 |
存儲數(shù)據(jù)量 | zui多10,000個 | zui多10,000個 | zui多100,000個 |
統(tǒng)計值 | 讀值個數(shù),zui小值,zui大值,平均值,標準方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計值(標準設(shè)置/自由配置) | ||
符合標準和規(guī)范 | ISO,SSPC,瑞典標準,澳大利亞標準 | ||
校準模式 | 出廠設(shè)置校準,零點校準,2點校準,3點校準, 使用者可調(diào)節(jié)補償值 | ||
極限值監(jiān)控 | 聲、光報警提示超過極限 | ||
測量單位 | um,mm,cm;mils,inch,thou | ||
操作溫度 | -10℃-60℃ | ||
存放溫度 | -20℃-70℃ | ||
數(shù)據(jù)接口 | IrDA 1.0(紅外接口) | ||
電源 | 2節(jié)AA電池 | ||
標準 | DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 ASTM B244,B499,D7091,E376 AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2 | ||
體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 約175g | 約210g | 約175g(內(nèi)置)230g(外置) |
SIDSP探頭
探頭 特性 | F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5 | F2 | F5,N2.5,F(xiàn)N5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范圍 | 小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標準探頭,使用廣泛 | 厚涂層 | ||
測量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
信號處理 | 探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP) | |||||
精確度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | |||
重復(fù)性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
zui小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
zui小曲率半徑(凹,外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
zui小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | |||
zui小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
測量速度 | 連續(xù)模式每秒20個讀數(shù),單值模式下每分鐘70個讀數(shù) |
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