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上海雙旭電子有限公司
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當前位置:上海雙旭電子有限公司>>無損檢測儀表>>涂層測厚儀>> MiniTest-2100新型MINITEST微電腦精密涂鍍層測厚儀|MiniTest-2100|

新型MINITEST微電腦精密涂鍍層測厚儀|MiniTest-2100|

參  考  價面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號MiniTest-2100

品       牌ElektroPhysik/德國EPK

廠商性質生產商

所  在  地上海市

更新時間:2024-07-23 17:06:10瀏覽次數:1222次

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產地類別 國產
新型MINITEST微電腦精密涂鍍層測厚儀|MiniTest-2100|
儀器特點:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自
具有不同的數據處理功能;
所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
可使用一片或二片標準箔校準。

新型MINITEST微電腦精密涂鍍層測厚儀|MiniTest-2100|

的詳細介紹

儀器特點:
  • MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自
  • 具有不同的數據處理功能;
  • 所有型號均可配所有探頭;
  • 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
  • 可使用一片或二片標準箔校準。

技術指標:

型號

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存儲的數據量
應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)

1

1

10

99

每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算,并可設寬容度極限值)

-

1

10

99

可用各自的日期和時間標識特性的組數

-

1

500

500

數據總量

1

10000

10000

10000

MINITEST統計計算功能
讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar

-

讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

組統計值六種x,s,n,max,min,kvar

-

-

組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據

-

-

-

分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值

-

-

顯示并打印測量值、打印的日期和時間

-

其他功能
設置極限值

-

-

連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值

-

-

連續測量模式中測量穩定后顯示讀數

-

-

連續測量模式中顯示zui小值

-

-

新型MINITEST微電腦精密涂鍍層測厚儀|MiniTest-2100|

可選探頭參數

    所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。

  • F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層

  • N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層

  • FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

探頭

量程

低端
分辨率

誤差

zui小曲率半徑
(凸/凹)

zui小測量
區域直徑

zui小基
體厚度

探頭尺寸




F05

0-500um

0.1um

±(1%±0.7um)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F2/90

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5um

±(1%±10um)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10um

±(1%±10um)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10um

±(3%±50um)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm



 

FN1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50um

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面

30mm

F0.5mm/N50um

φ21x89mm

FN2

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50um

φ15x62mm




N02

0-200um

0.1um

±(1%±0.5um)

1/10mm

2mm

50um

φ16x70mm

N.08Cr

0-80um

0.1um

±(1%±1um)

2.5mm

2mm

100um

φ15x62mm

N1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

2mm

50um

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面/10mm

5mm

50um

φ13x13x170mm

N2

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

50um

φ15x62mm

N2/90

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

平面/10mm

5mm

50um

φ13x13x170mm

N10

0-10mm

10um

±(1%±25um)

25/100mm

50mm

50um

φ60x50mm

N20

0-20mm

10um

±(1%±50um)

25/100mm

70mm

50um

φ65x75mm

N100

0-100mm

100um

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50um

φ126x155mm

CN02

10-200um

0.2um

±(1%±1um)

平面

7mm

無限制

φ17x80mm

  • F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。

  • N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。

  • CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
     

 

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