薄膜鉑熱電阻WZP-4212U 返回列表頁

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更新時間：2024-07-17 14:49:20瀏覽次數：1621次

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WZP-4212U|薄膜鉑熱電阻
熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內的溫度。其優點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調節儀、掃描儀及電腦
薄膜鉑熱電阻WZP-4212U

WZP-4212U|薄膜鉑熱電阻4.電阻溫度系數（α）與標稱值的偏差名稱等級 α α 鉑電阻 A 0．003851 ±0.000006 B ±0.000012 銅電阻 0．004280 ±0.000020

WZP-4212U|薄膜鉑熱電阻

的詳細介紹

WZP-4212U|薄膜鉑熱電阻

薄膜鉑熱電阻WZP-4212U

熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內的溫度。其優點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調節儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值。

WZP4212U薄膜鉑熱電阻，WZP-4212U，的詳細資料：

1．測溫范圍、允差

2.熱響應時間

在溫度出現階躍變化時,熱電阻的電阻值變化至相當于該階躍變化的50%，所需要的時間稱為熱響應時間，用t0.5表示。

3.自熱影響

鉑電阻允許通過電流1mA，zui大測量電流為5mA，由此產生的升溫不大于0.3℃。

4.電阻溫度系數（α）與標稱值的偏差

5.絕緣電阻

當周圍空氣溫度15-35℃和相對濕度小于80%時熱電阻絕緣電阻不小于100MΩ。

薄膜鉑電阻元件

一、概述

CRZ系列薄膜鉑熱電阻元件是把金屬鉑研制成粉漿，采用*激光噴濺薄膜技術及光刻法和干燥蝕刻法把附著在陶瓷基片上形成膜，引線經過激光調阻制成，*自動的生產程序保證了產品*符合IEC標準。

二、技術特點

1．薄膜鉑熱電阻元件用陶瓷和鉑制成，因而在高溫下能夠保持優良的穩定性，適合在-50～400℃的溫度下使用。

2．鉑薄膜通過激光噴濺在陶瓷表層，因而它具有良好的防震和防沖擊性能。

3．薄膜表面蓋以陶瓷，因而元件能夠承受高壓，并具有良好的絕緣性。

4．引線材料為鎳鍍金和純鈀兩種。

5．規格：

型號	規格長×寬×高	阻值	測量電流	精度	測量范圍	熱響應時間
CRZ-1632	3.2×1.6×1.0	PT100 PT100	≤1mA	A	-50～550℃	≤0.3S
CRZ-2005	5.0×2.0×1.1	PT50	≤2mA	A	-50～400℃
CRZ-2005	5.0×2.0×1.0	PT10	≤0.5mA	B	-50～500℃