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當前位置：上海右一儀器有限公司>>表面分析檢測儀>>涂鍍層測厚儀>> MINITEST 3100德國MINITEST 3100高精度涂鍍層測厚儀
品牌：德國EPK
名稱：測厚儀
型號：MINITEST 3100
價格：20940.00
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詳細介紹：
用于測量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）：
· 鋼鐵基體上的非磁性覆層
描述：
電源：1X9V堿性電池或外接電源
電池壽命：10000次測量
工作環境溫度：主機0
主機尺寸/重量：150mmx82mmx
*另有耐高溫測頭
適用：
DIN50891，50982，50984，ISO2178，2360，BS5411，ASTM B 499，B244-CE ISO
測量主機：
| 技術特征 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
| MINITEST存儲的數據量 |
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| .應用行數（根據不同測頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數） | 1 | 1 | 10 | 99 |
| .每個應用行下的組（BATCH）數（對組內數據自動統計計算，可設寬容度極限值） |
| 1 | 10 | 98 |
| .可用各自的日期時間標識特性的組數 |
| 1 | 多500 | 多500 |
| .數據總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
| MINITEST統計計算功能 |
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| .讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar |
| ● |
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| .讀數的八種統計值x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk |
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| ● | ● |
| .組統計值六種x,x,n,max,min,kvar |
| ● |
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| .組統計值八種 x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk |
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| ● | ● |
| .存儲顯示每一應用行下的所有組內數據 |
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| ● |
| .分組打印以上顯示和存儲得數據、統計值 |
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| .顯示并打印測量值、打印的日期和時間 |
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| MINITEST 校準方法 |
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| .透過涂層進行校準（CTC） |
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| .在粗糙表面上作平均零校準 | ● | ● | ● | ● |
| .利用PC機進行基礎校準 | ● | ● | ● | ● |
| .補償一個常數（OFFSET） |
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| .外設的讀值傳輸存儲功能 |
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| .保護并鎖訂校準值 | ● | ● | ● | ● |
| .更換電池時存儲讀值 | ● | ● | ● | ● |
| .設置極限值 |
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| .公英制轉換 | ● | ● | ● | ● |
| .連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別大小值 |
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| .連續測量模式中測量穩定后顯示讀值 | ● | ● | ● | ● |
| .浮點或定點方式數據傳送 | ● | ● | ● | ● |
| .無需連接測頭即可讀數值 |
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| .組內單值延遲顯示 |
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| .連續測量模式中顯示小值 | ● | ● | ● | ● |
可選用測頭的技術數據：
| 測頭 | 量程 | 低端 分辨率 | 容差 | 小曲率半徑（凸/凹） | 小測量 面積 | 小基體 厚度 | 尺寸（mm） |
| FN1.6 | 0—1600μm | 0.1μm | ±（1%+1μm） | | φ | F | φ15x62 |
| FN1.6P | 0—1600μm | 0.1μm | ±（1%+1μm） | 只限平直表面 | φ | F | φ21x89 |
| FN2（也適合銅上鉻） | 0—2000μm | 0.2μm | ±（1%+1μm） | | φ | F | φ15x62 |
| F05 | 0—500μm | 0.1μm | ±（1%+0.7μm） | | φ | | φ15x62 |
| F1.6 | 0—1600μm | 0.1μm | ±（1%+1μm） | | φ | | φ15x62 |
| F3* | 0—3000μm | 0.2μm | ±（1%+1μm） | | φ | | φ15x62 |
| F1.6/90（管內測頭） | 0—1600μm | 0.1μm | ±（1%+1μm） | 平直/ | φ | | φ8x8x170 |
| F2/90（管內測頭） | 0—2000μm | 0.2μm | ±（1%+1μm） | 平直/ | φ | | φ8x8x170 |
| F10 | 0— | 5μm | ±（1%+10μm） | | φ | | φ25x46 |
| F20 | 0— | 10μm | ±（1%+10μm） | | φ | | φ40x65 |
| F50 | 0— | 10μm | ±（3%+50μm） | | φ | | φ45x70 |
| N02 | 0—200μ | 0.1μm | ±（1%+0.5μmm） | | φ | 50μm | φ16x70 |
| N08Cr（適合銅上鉻） | 0—80μm | 0.1μm | ±（1%+1μm） | | φ | 100μm | φ15x62 |
| N1.6 | 0—1600μm | 0.1μm | ±（1%+1μm） | | φ | 50μm | φ15x62 |
| N2 | 0—2000μm | 0.2μm | ±（1%+1μm） | | φ | 50μm | φ15x62 |
| N1.6/90 （管內 測頭） | 0—1600μm | 0.1μm | ±（1%+1μm） | 平直/ | φ | 50μm | φ13x13x170 |
| N2/90 （管內測頭） | 0—2000μm | 0.2μm | ±（1%+1μm） | 平直/ | φ | 50μm | φ13x13x170 |
| N10 | 0— | 10μm | ±（1%+25μm） | | φ | 50μm | φ60x50 |
| N20 | 0— | 10μm | ±（1%+50μm） | | φ | 50μm | φ65x75 |
| N100 | 0— | 100μm | ±（1%+ | | φ | 50μm | φ126x155 |
| CN02（絕緣基體上的有色金屬覆層） | 10—200μm | 0.2μm | ±（1%+1μm） | 只限平直表面 | φ | 無限制 | φ17x80 |
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