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詳細介紹
1.電子元器件冷熱沖擊高低溫老化試驗箱詳細參數(shù)：
| 兩箱式冷熱沖擊試驗箱 分高溫區(qū)、低溫區(qū)兩部分，測試樣品放置在其中一個工作室內(nèi)，通過氣動方式實現(xiàn)樣品在高低溫室的切換，完成冷熱溫度沖擊測試。*之蓄熱、蓄冷結構確保試驗箱恒溫性能良好。 |
| COK-50-2H 注：風冷型不用安裝冷卻水塔，水冷型則要安裝，依客戶要求而定。 |
| 本試驗設備禁止： ①易燃、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存 ②腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存 ③生物試樣的試驗或儲存 ④強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存 |
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標稱內(nèi)容積 | 150L |
提籃尺寸 | W500*H600*D500mm |
外箱尺寸 | W1800*H1900*D1540mm |
沖擊溫度 | -40℃~150℃ |
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| 環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、試驗箱內(nèi)無試樣條件下 GB/T 5170.2-1996 溫度試驗設備。 |
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5.3.1.高溫室 | +60℃→+180℃ |
5.3.2.升溫速度 | 升溫 +60℃→+180℃ ≤25min 注：升溫時間為高溫室單獨運轉時的性能 |
低溫測試區(qū) |
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5.4.1.溫度范圍 | -55℃～-10℃ |
5.4.2.降溫速度 | 降溫 -10℃ → -55℃≤35min 注：降溫時間為低溫室單獨運轉時的性能 |
試驗方式 |
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5.5.1.試驗方式 | 試驗吊籃通過氣動方式使樣品在高溫和低濕測試區(qū)相互切換。 |
5.5.2.溫度沖擊范圍 | （+50～+150）℃/（-40～-10）℃ |
5.5.3.溫度波動度 | ±0.5℃ |
5.5.4.溫度偏差 | ±2.0℃ |
5.5.5.溫度恢復間 | ≤3~5min |
5.5.6.溫度轉換間 | ≤10sec |
5.5.7.測試功能 | 可獨立設定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，具有高低溫交變試驗箱的功能。 |
| GB/T 2423.1-2008 試驗A：低溫試驗方法 GB/T 2423.2-2008 試驗B：高溫試驗方法 GB/T2423.22-2002 試驗N：溫度變化試驗方法 試驗Na GJB 150.5A-2009 軍用設備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗 GJB 360A-1996 溫度沖擊試驗 GJB367.2-2001 軍用通信設備通用規(guī)范 溫度沖擊試驗 IEC 68-2-14 試驗方法 N ：溫度變化 |
2.電子元器件冷熱沖擊高低溫老化試驗箱結構：
一、高溫室
加熱器：鎳鉻合金電加熱器
風機：高溫、環(huán)境溫度曝露時共用離心風機，預熱用軸流風機
二、低溫室
加熱器、冷卻器：鎳鉻合金電加熱、翅片式冷卻器、蓄冷器
風機：離心風機
三、驅(qū)動裝置
氣動氣缸：高溫、環(huán)境溫度、低溫曝露時的各個風門驅(qū)動用
空氣壓縮機：提供驅(qū)動氣動風門的壓縮空氣（選件）
四、制冷機組
制冷方式：機械壓縮二元復迭制冷
制冷壓縮機：半封閉活塞式
制冷劑：23/R404 環(huán)保型
冷凝器：不銹鋼釬焊板式換熱器
五、控制器
操作界面：6" 彩色液晶顯示觸摸屏，中文菜單提示
程序記憶容量：100 組用戶程序（可自行編制，修改）
設定指標范圍：時間：1分鐘~99小時59分鐘，循環(huán)：1~999循環(huán)
分辨率：溫度： 0.01 ℃，時間： 1 分鐘
輸入：T型熱電偶
控制方法：PID控制
附屬功能：定時器、超溫保護、傳感器上下風選擇、停電保護、報警記錄、試驗曲線記錄、試驗暫停、程序運行時間顯示
電源：AC380±10％V 50±0.5Hz，三相四線+保護地線
功率（kw）：20，21，22
冷卻循環(huán)水：水壓：0.2~0.4MPa,水溫：≤30℃
壓縮空氣：0.5~0.7MPa
標準配置：試驗箱狀態(tài)表示燈,累時器1個,引線孔(25×100mm長圓型孔箱體左側面)1個,駙馬腳輪6個,調(diào)整腳4個
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