當前位置:寧波旗辰儀器有限公司>>超聲波/涂層測厚儀>>超聲波測厚儀>> CMX DL+無損檢測超聲波測厚儀
產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 電子,交通,電氣 |
CMX DL+無損檢測超聲波測厚儀多層厚度The CMX DL+ 測厚儀不僅有MVX的所有功能,而且還有同時測量金屬基體和表面非金屬涂層厚度的能力。CMX DL+無損檢測超聲波測厚儀產品特點:
測量方式(僅測量基體厚度、同時測量基體和涂層的厚度、僅測量涂層厚度)
顯示模式(數字式顯示、B掃描顯示、A掃描顯示<僅cmx>)
增益可調節:超低、低、中、高、超高
增益值可到110dB
自動增益控制(AGC)
時間增益校正(TCG)
探頭自動識別,自動調零和溫度補償
最大值、最小值顯示
可存儲64個用戶參數設置
高速掃查(50次/秒)
高達140HZ的脈沖重復頻率
B掃描顯示用于顯示被測材料的截面形狀
A掃描波形顯示和RF顯示(CMX DL+)
差值測量模式
高速掃查功能可用于快速找到壁厚的最小值
上/下限聲光報警功能
數據存貯:可存儲21000個測量厚度值或者16000個測量厚度值和B掃描圖形及參數
可通過軟件與計算機進行數據交換,方便用戶打印檢測報告
技術參數:
界面波-底波(P-E)方式:0.63-508mm
帶自動溫度補償的界面波-底波(PETP)方式: 0.63-508mm
多層測量(PECT)方式:0.63-508mm(基體) 0.01-2.54mm(表面涂層)
穿透涂層測量(E-E)模式:2.54—102mm(因涂層的不同會有所變化)
僅測量涂層(CT)模式:0.0127——2.54mm(因涂層的不同會有所變化)
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