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局部放電測試儀【尚牌】

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更新時間:2017-07-16 20:24:41瀏覽次數:395

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產品簡介

用于晶體硅組件TPT背膜放電檢測。

詳細介紹

執行標準:IEC 61730:2-2004

技術規格:

★局部放電通常產生于固體介質中的氣泡或裂痕
★絕緣材料的局部放電產生于介質中的氣泡
★呈現在氣泡上的電場(或電壓應力)明顯高于該絕緣材料中同樣距離的介質上的電場強度
★在歐洲,作為電子部件的安全標準,通常行部分放電試驗。安全標準EN50178中,對絕緣部件和元件的非部分放電性和耐受部分放電特性提出了要求。部分放電測試儀KPD2050是符合安全標準EN50178的部分放電驗的部分放電測試儀。在該標準試驗中,額定電壓×1.25倍以上時部分放電失效(概略)。可以說這是以非破壞方式發現潛在不良的一種試驗。部分放電試驗KPD2050是進行此類標準試驗的測量基準型測試儀,具有劃時代意義。
★符合歐洲安全標準“EN50178”的部分放電測量方法
★施加交流電壓:AC0.01kV?5kVrms(電壓變化:自動/手動)
★電壓自動變化模式:3種基本模式
★電荷測量:0.1pC~1000pC

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