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實驗簡介：

晶體在電場、磁場、應力的作用下會產生雙折射效應，利用此效應可以測量相關物理量，也可以實現對光的相位和強度進行調制。晶體的電光、聲光、磁光效應是zui常見的三種調制現象，RealLight™將這三個知識點融合在一起開發的本實驗，便于教師講授相關知識點以及學生通過實驗現象來橫向比較實驗原理。

實驗內容：

1、晶體電光調制實驗與語音傳輸實驗；

2、晶體聲光調制實驗與語音傳輸實驗；

3、晶體磁光維爾德常數測量實驗；

4、晶體磁光維爾德常數色散測量實驗。

主要設備參數：

1. 光源組件：

氦氖激光器：P>1.5mW，模式TEM00，全保護安全高壓插頭，

安全樣式：按鍵*關設計，符合CE要求，安全鑰匙；

固體激光器：P>20mW，532nm。

2. 電光晶體組件：

晶體類型：鈮酸鋰，3mm×4mm×35mm，雙面濺射電極，端面鍍增透；

實驗電源：0～300V可調，內置正弦信號50～2000Hz，調制幅度0～150V可調。

3. 聲光晶體組件：

聲光晶體：石英晶體，雙布角設計，調制頻率：100MHz，鍍增透膜；

聲光電源：24V。

4. 磁光晶體組件：

磁光晶體：ZF7，Φ5×50mm，Φ5×20mm；

高性能永磁體：釹鐵硼N38H，端面磁場>1.1T。

5. 光學組件：

偏振片：Φ25.4mm,K9玻璃窗口,AR@400nm～700nm,消光比>400:1；

石英波片：Φ25.4mm，石英晶體，光潔度II級，精度：30″。

6. 探測器組件：

激光功率計：三波長532/633/650nm，測量范圍：0～300mW、zui小分辨率0.01mW；

光電接收模塊：響應波長400nm～1100nm；

音頻信號輸出：音源：MP3 2G內存、5V供電，含音箱。

7. 機械組件：

精密光學導軌：L×W=1200mm×90mm；配套滑塊、一維平移滑塊，調節支座、支桿；

高精度調節鏡架。

8. 講義及快速安裝指南。

選配設備參數：

1、 儀器設備防塵罩外形尺寸：1400mm×360mm×300mm；觀察窗材料：亞克力透明擋板。

2、數字示波器：帶寬100MHz，采樣頻率1GHz。Sauvigno