當前位置:> 供求商機> MNRLE-ME03-剪切干涉測量實驗
實驗簡介:
剪切干涉法因其結構簡單,搭建方便,已經被廣泛應用于實際中光學系統波像差的檢測。RealLight™應用數字相機采集剪切干涉條紋,通過條紋分析可以定量測量出初級球差及軸向離焦量等。本實驗適用于高校光電專業本科生《工程光學》、《光電檢測》等相關課程配套專業實驗。
實驗內容:
1、剪切干涉測試光路搭建及調整實驗;
2、初級球差典型剪切干涉圖樣觀測實驗;
3、測量用相機系統標定實驗;
4、球差鏡頭初級像差系數測量實驗;
5、測試光路軸向離焦量測量實驗。
主要設備參數:
1. 光源組件:
氦氖激光器:P>1.5mW,TEM00,全保護安全高壓插頭,*關設計(安全鑰匙、按鍵)符合CE標準。
2. 測試組件:
測試鏡頭:Φ40mm,孔徑光闌Φ2~29mm。
3. 機械組件:
精密光學導軌:L×W=1200mm×90mm,配套滑塊、一維移動滑塊、調節支座、支桿;高精度調節鏡架穩定性;
一維精密移動臺:行程13mm,精度0.005mm,直線性<5μm 。
4. 光學組件:
成像鏡頭:f=16mm ,F1.4;
光學平晶:Φ50mm,Tc=20mm ,平行度<2" ,面型λ/10,光潔度IV級。
5. 探測器組件:
數字CMOS相機:130萬像素,像素大小5.2μm×5.2μm,USB2.0,A/D:10bit。
6. 空間濾波器組件:
40×顯微物鏡,15μm針孔,高精度三維調節機構,微調精度0.002mm。
7. 軟件組件:
圖像采集與保存模塊,相機標定模塊,初級像差測試模塊,USB2.0軟件鎖。
8. 講義及快速安裝指南。
選配設備參數:
1、儀器設備防塵罩:
外形尺寸:1400mm×360mm×300mm;
觀察窗材料:亞克力透明擋板。
2、計算機(基本配置)。
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