目錄:深圳市天創(chuàng)美科技有限公司>>金屬元素檢測儀>>金屬含量檢測>> 金屬含量檢測儀器
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),地礦,交通,冶金 |
我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、液相色譜儀(LC)、能譜儀(EDS)、頻紅外碳硫分析儀(CS Analyzer)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質(zhì):鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質(zhì)采礦(各種礦石品位檢測設(shè)備)、塑料(無鹵測試等)、石油化工、嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、、商品檢驗、質(zhì)量檢驗、人體微量元素檢驗等等。總之銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測。
檢測鋼鐵元素成分含量(含各種合金,不銹鋼等),簡單方便的是X熒光光譜儀,精度更高穩(wěn)定性更好的是實驗室使用的專業(yè)測試鋼材成分設(shè)備的是OES光電直讀光譜儀,介紹如下:
金屬含量檢測儀器
儀器介紹:
手持式儀器簡介:
合金分析儀*性能
. 超的檢測精度度。
. 超的穩(wěn)定性,超的重復(fù)性。
. 優(yōu)異的線性相關(guān)性。
. 采用了*重新設(shè)計的射線管、無壓電源線、無 RF 噪音、更好的X射線屏蔽。
. 結(jié)構(gòu)更精密,縮短了射線管、探測器與被測樣品之間的距離,對于某些應(yīng)用信號提了~40%.
. 新的濾波輪更輕、更薄,在位置上更加接近被測樣品,具有8 個濾波器,可適應(yīng)的配置,不同的元素采用不同的濾波器,產(chǎn)生好的分析效果。
. 可測試Mg;Al;Si;P;S等輕質(zhì)元素。
. 內(nèi)置的氣壓計可以糾正氣壓,氣壓計壓力感應(yīng), 可根據(jù)不同的壓力調(diào)整,從而是檢測值更加準(zhǔn)確,儀器預(yù)設(shè)海平面,客戶在不同的海拔度測試,無需再次校準(zhǔn)。
. 內(nèi)置的加速器可探測運(yùn)動和震動,使儀器不用時待機(jī),拿起時工作。
. 智能接駁座可對額外電池充電、儀器內(nèi)置電池同時充電并顯示充電進(jìn)度,接駁座能連接電腦交換數(shù)據(jù),可讓儀器即時標(biāo)準(zhǔn)化,儀器隨時待命狀態(tài)。
. 儀器即使在開機(jī)狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關(guān)機(jī),在系統(tǒng)運(yùn)作中拔掉電池,有超過30秒的時間可以插入一個新電池。
. 儀器開機(jī)并不需要標(biāo)準(zhǔn)化,可以直接測試,標(biāo)準(zhǔn)化僅僅是可選項。
. 儀器外殼采用鋁合金、塑膠設(shè)計,堅固耐用,手柄軟膠設(shè)計,手感好,更適合長時間使用。
. 儀器具有很好的平衡性,在測試時能立于工作臺上,不需要用手扶持,一鍵式按鈕設(shè)計,即使長時間操作也無疲勞感。
. 工業(yè)級可觸摸的顯示屏與主機(jī)一體化密封設(shè)計,可承受野外惡劣的工作環(huán)境。密封的儀器可在雨天、塵土飛揚(yáng)的礦山環(huán)境中長時間正常工作。
合金分析儀用途及應(yīng)用
用于現(xiàn)場,無損,快速,準(zhǔn)確分析檢測合金元素和合號的識別。
合金材料鑒別(PMI)
來料檢驗;庫存材料管理;安裝材料復(fù)檢
由于在石化建設(shè),金屬冶煉,壓力容器,電力電站,石油化工,精細(xì)化工,制藥,航空航天等行業(yè)中,混料或使用不合格的材料會產(chǎn)生嚴(yán)重的安全?肌?
金屬廢料回收
廢舊金屬的回收、再利用需要Innov-X 便攜式XRF 合金分析儀,確保對大量繁雜多樣的合金種類及材料品質(zhì),進(jìn)行現(xiàn)場快速準(zhǔn)確的分析檢測。
質(zhì)量保證與質(zhì)量控制(QA/QC)
在金屬制造行業(yè)中,材料、半成品、成品的質(zhì)量保證與質(zhì)量控制(QA/QC)是*的,混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來損失。便攜式XRF 合金分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機(jī)制造商的各種制造業(yè)。已成為質(zhì)量體系中材料確認(rèn)、半成品檢驗、成品復(fù)檢的儀器.
合金分析儀技術(shù)規(guī)格
項目 | 合金分析儀 |
激發(fā)源 | 大功率微型直板電子X射線管,內(nèi)置15kV~40kV多段可選擇的電壓;無壓電纜、無射頻噪聲、更好的X射線屏蔽、更好的散熱。 |
直讀光譜儀簡介:
應(yīng)用領(lǐng)域
冶金、鑄造、機(jī)械、科研、商檢、汽車、石化、造船、電力、航空、核電、金屬和有色冶煉、加工和回收工業(yè)中的各種分析。
可檢測基體
鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基。
主要技術(shù)參數(shù)
v 光學(xué)系統(tǒng):帕型-龍格 羅蘭圓全譜真空型光學(xué)系統(tǒng)
v 波長范圍:140~680nm
v 光柵焦距:401mm
v 探 測 器:性能CMOS陣列/CCD陣列
v 光源類型:數(shù)字光源,能預(yù)燃技術(shù)(HEPS)
v 放電頻率:100-1000Hz
v 放電電流:大500A
v 工作電源:AC220V 50/60Hz 1000W
v 檢測時間:依據(jù)樣品類型而定,一般20S左右
v 電極類型:鎢材噴射電極
v 分析間隙:4mm
v 其他功能:真空,溫度,軟件自動控制;壓力,通訊監(jiān)測
主要特點
v 性能光學(xué)系統(tǒng)
采用精度的CMOS元件可測定非金屬元素如C、P、S、As、B、N以及各種金屬元素含量;測定結(jié)果,重復(fù)性及長期穩(wěn)定hao。
v 自動光路校準(zhǔn)
儀器自動識別特定譜線與原存儲線進(jìn)行對比,確定漂移位置,找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測定。
v 插拔式透鏡設(shè)計
真空光學(xué)系統(tǒng)采用*的入射窗與真空隔離,可在真空系統(tǒng)工作狀態(tài)下進(jìn)行操作,光學(xué)透鏡采用插拔式透鏡結(jié)構(gòu),日常清洗維護(hù)方便快捷。
v 真空防返油技術(shù)
v 開放式激發(fā)臺
開放式激發(fā)臺機(jī)靈活的樣品夾設(shè)計,以滿足客戶現(xiàn)場的各種形狀大小的樣品分析;配合使用小樣品夾具,線材低分析可達(dá)到3mm。
v 噴射電極技術(shù)
采用的噴射電極技術(shù),使用鎢材料電極,在激發(fā)狀態(tài)下,電極周圍會形成氬氣噴射氣流,這樣在激發(fā)過程中激發(fā)點周圍不會與外界空氣接觸,提激發(fā)精度;配上du特氬氣氣路設(shè)計,大大降低了氬氣使用量,也降低客戶使用成本。
v 集成氣路模塊
氣路系統(tǒng)采用氣路模塊免維護(hù)設(shè)計,替代電磁閥和流量計,電極自吹掃功能,為激發(fā)創(chuàng)造了良好的環(huán)境。
v 數(shù)字化激發(fā)光源
v 速數(shù)據(jù)采集
儀器采用性能CMOS檢測元件,具有每塊CMOS單獨(dú)超速數(shù)據(jù)采集分析功能,并能自動實時監(jiān)測控制光室溫度、真空度、氬氣壓力、光源、激發(fā)室等模塊的運(yùn)行狀態(tài)。
v 以太數(shù)據(jù)傳輸
v 預(yù)制工作曲線
備有不同材質(zhì)和牌號的標(biāo)樣庫,儀器出廠時工廠預(yù)制工作曲線,方便安裝調(diào)試和及時投入生產(chǎn);根據(jù)元素和材質(zhì)對應(yīng)的分析程序而稍有差異,激發(fā)和測試參數(shù)儀器出廠時已經(jīng)調(diào)節(jié)好,根據(jù)分析程序可自動選擇優(yōu)測試條件。
v 分析速度快
分析速度快,僅需20秒即可完成一次分析;針對不同的分析材料,通過設(shè)置預(yù)燃時間及測量時間,使儀器用短時間達(dá)到優(yōu)的分析效果。
v 多基體分析
v 軟件中英文系統(tǒng)
金屬含量檢測儀器
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