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應用領域 | 文體,電子,印刷包裝,紡織皮革,冶金 |
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環保ROHS儀器
應用領域:
1、鋼鐵行業:對生鐵、各類鑄鐵、各類合金鋼及爐渣、礦石、燒結礦、球團礦、鐵精粉、
鐵礦石除碳(C)以外的各種元素成份分析。
2、 耐火材料及水泥行業的分析:各類耐火材料及水泥生料樣品的成份分析。
3、有色行業:對鋁合金、不銹鋼、銅合金樣品及鉛鋅礦、銅礦、銀礦、鉬礦等各種成份
分析。
4、質檢部門: ROSH 指令中的Pb,Cd ,Cr,Hg,Br 及氯素各種等成份分析。
5、 鍍層測厚:可對金屬材料及非金屬材料上的所有電鍍層的厚度進行準確無損測量。
儀器特點
1、采用DPP 數字脈沖成型技術,計數率,無漏計,穩定性好;
2、采用X光管激發樣品,一次激發全部待測元素,韌致輻射型,Be(鈹)窗厚50μm,靶材Ag(銀靶),功耗低、壽命長,對輕重元素均有較的激發效率;
3、 采用世界上的電致冷SDD 半導體探測器,分辨率,達到130ev,無需液氮制冷,使用方便,可以一次性完成對多種元素的探測;
4、壓電源:電壓0V-50kV 連續可調;電流0-2mA 連續可調,精度,*操作;
5、 真空環境測量,提了輕元素的激發效率和測量范圍;
6、2048 道多道譜儀實時測量顯示,對樣品X 光譜進行精細分析,系統可自動識別譜線,方便了解樣品的組成;
7、 自動尋峰,消除譜峰漂移影響,確保儀器長期穩定;
8、全中文Windows 應用軟件,操作簡單。專業的分析軟件,可以實現模式識別,自動分類,開放式軟件系統,用戶可以根據自身需要建立庫文件;
9、融合了一系列的光譜處理方法,包括FFT(快速傅立葉變換濾波)、的背景扣除方法、自動尋峰和Quasi-Newton(準牛頓)優化算法等;
產品優勢
、快速、無損、直觀、環保;
:測試結果可以接近濕化學方法測試;
快速:分析樣品中的幾十個元素只需幾分鐘;
無損:不會破壞被分析樣品的物理和化學特性;
直觀:分析結果以圖表方式直接呈現;
環保:不會對環境產生污染破壞;
四、主要技術指標
1、分析元素:Na-U,主要是Al、Si、P、S、K、Ca、、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、Ast等。
2、分析范圍:1ppm-99.99%。
4、同時分析:30種元素同時分析.
5、能量范圍:1-50keV.
6、測量時間:1-2 分鐘可以完成全部待測元素的含量分析.
7、進口電制冷半導體探測器的分辨率:130ev.
8、 管電壓:0-50Kv 管電流: 1~2000 μA.
9、儀器的分析精度:標準偏差≤0.08%.
10、分析誤差:優于標準要求.
11、輻射劑量:<25μsv/h.
12、環境溫度要求:15℃-35℃
14、工作電源:交流220±10%、50、60Hz
主要配置
1、探測系統
1、探測器
類型:電制冷SDD探測器
Be窗厚度:50um
佳分辨率:130eV
能量響應范圍:1keV-50keV
2、X光管(用于X射線能譜儀)
電壓:0~50kV
電流:1.0mA
功率:50W
燈絲電壓:2.0V
燈絲電流:1.7A
射線取出角:12°
靶材:Mo
Be窗厚度:0.5mm
3、壓電源
電壓范圍:0-50kV連續可調,采用數字顯示
輸入電壓:DC+24V±10%
輸入電流:4.0A()
輸出電壓:0-5KV & 1mA
功率:50W
電壓調整率:0.01%(從空載到滿載)
電流調整率:0.01%(從空載到滿載)
紋波系數:0.1%(P-P值)
8小時穩定性:0.05%
4、真空泵
真空度:真空測試20Pa極限真空2Pa
5、全光路集成設計/射線防護系統/真空腔體
X 光管、探測器、復合濾光處理系統、CCD、定位系統、全自動準直器切換系統等光路處理器件均集成在密閉的結構中,確保光路系統的穩定性與密閉性作為
真空光路系統的腔體,通過環路和迷宮方式有效的利用X 射線的能量,同時保證了射線的零溢出。
6、全自動復合濾光切換系統
合理的8種復合濾光片的組合和自動切換系統,以及二次濾光片的升級空間,既可以降低來自原級X射線干擾的影響,提被測元素的靈敏度和測試精度。
7、多口徑準直器自動切換系統
φ1mm,φ3mm,φ5mm,φ18mm四種口徑準直器可自動切換;
保證了各類樣品的測試便利。
8、攝像系統
500萬像素分辨率CCD;
32位真彩色,生動顯示射線照射位置;
配合小口徑準直器可實現的定點測量;
特別配置的背景燈,保證了測試物質的圖像清晰。
9、照射區控制系統
可調整的X光照射區域控制系統,可以清晰的知道測試樣品的部位,配合用鼠標對樣品位置的移動,準確的判斷測試樣品的全部信息。
開放性工作曲線
用戶可很方便的根據自身材質狀況,建立風險材料的工作曲線,全面提工作曲線與被測材料的對應性。從而大幅度提升風險物質的檢測精度。
分析時間
可根據樣品種類設置不同的檢測時間,并可根據樣品大小自動調節檢測時間以保證所需檢測精度。
XRF應用-無鹵測試 對于氯(Cl)元素的測量,光路優化前后存在的差別,主要原因如下: ① 由于氯(Cl)元素熒光光子能量較低(2.6KeV),空氣會對熒光光子產生較為嚴重的吸收效應,從而降低熒光強度,大幅度降低測量精度。 ② 空氣中惰性氣體元素氬(Ar)對氯(Cl)元素產生的干擾,也會對測量精度產生較為顯著的負面影響。 光路優化之后明顯看出空氣中惰性氣體元素氬(Ar)對氯(Cl)元素產生的干擾減少。 |
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