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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
CSIII標(biāo)準(zhǔn)試塊（曲面對比試塊）
檢測面是曲面時，應(yīng)采用CSIII標(biāo)準(zhǔn)對比試塊來測定由于曲率不同而引起聲能損失
相關(guān)產(chǎn)品資料：
其它試塊：
不銹鋼鍍鉻滲透標(biāo)準(zhǔn)試塊 鋁合金滲透對比試塊 D型磁粉探傷用試片 M1型磁粉檢測試片
小徑管試塊 階梯試塊 荷蘭試塊 LS-1螺栓試塊 YM-B5型 滲透試塊（不銹鋼五點(diǎn)試塊）YM-B3型 滲透試塊（不銹鋼三點(diǎn)試塊） YM-A型滲透試塊 TD型 磁場指示器（八角試塊）
E型 交流標(biāo)準(zhǔn)試塊（3孔試塊） B型 直流標(biāo)準(zhǔn)試塊（12孔試塊） A1型磁粉探傷試片
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E型 交流標(biāo)準(zhǔn)試塊（3孔試塊） B型 直流標(biāo)準(zhǔn)試塊（12孔試塊） A1型磁粉探傷試片
單晶直探頭（CSI）標(biāo)準(zhǔn)試塊
采用CSI試塊，其形狀和尺寸應(yīng)符合4-3和表4-3的規(guī)定。如確有需要也可采用其他對比試塊
| 試塊序號 | CSI-1 | CSI-2 | CSI-3 | CSI-4 |
| L | 50 | 100 | 150 | 200 |
| D | 50 | 60 | 80 | 80 |
雙晶直探頭（CSII）標(biāo)準(zhǔn)試塊
a、工件檢測距離小于45mm時，應(yīng)采用CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊。
b、CSII試塊的形狀和尺寸應(yīng)該符合表中的規(guī)定
| 序號 | CSII-1 | CSII-2 | CSII-3 | CSII-4 |
| Φ2 | Φ3 | Φ4 | Φ6 | |
| 檢測距離L | ||||
| 1 | 5 | |||
| 2 | 10 | |||
| 3 | 15 | |||
| 4 | 20 | |||
| 5 | 25 | |||
| 6 | 30 | |||
| 7 | 35 | |||
| 8 | 40 | |||
| 9 | 45 | |||
CSIII-曲率規(guī)格：75/0，75/50/,75/75，75/100，75/125，75/150/75/200，75/300，75/400，75/500，75/600，75/700，75/750/,75/800
