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超聲波探傷標準試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 多用磁粉探傷儀 移動式磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報警儀/個人計量儀 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測厚儀 退磁機/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業評片燈 強度計/特斯拉計/高斯計 數顯黑白密度計/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉、磁膏、磁懸液 熒光探傷燈 高強度紫外線燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業X光膠片 JB行業標準試塊 GB國家標準試塊 焊縫自然缺陷試塊 CSK-IA超聲波試塊 超聲波檢測試塊 *標準試塊與其他*標準試塊 工業恒溫洗片機、干片機 進口 超聲波耦合劑 其它
產品簡介
詳細介紹
CBII標準試塊:
中華人民共和國行業標準試塊 JB4730-2005
JB4730-2005
板厚mm | 采用探頭 | 公稱頻率 | 探頭晶片尺寸 | |
雙晶直探頭 | 單晶直探頭 | |||
6-20 | 雙晶探頭 | 5MHZ | 晶片面積不小于150mm2 | - |
>20-250 | 單晶探頭 | 2.5MHZ | - | 圓晶片直徑為14-5mm或方晶片面積不小于200mm2 |
奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材以及雙向不銹鋼板材的超聲檢測也可參照本章執行。用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm的剛板時,采用如圖CBI標準試塊圖,用單晶直探頭檢測板厚大于20mm的鋼板時,CBII試塊應符合表4-2的規定。試塊厚度應與被檢測鋼板厚度相近。
CBII標準試塊