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超聲波探傷標準試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 多用磁粉探傷儀 移動式磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報警儀/個人計量儀 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測厚儀 退磁機/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業評片燈 強度計/特斯拉計/高斯計 數顯黑白密度計/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉、磁膏、磁懸液 熒光探傷燈 高強度紫外線燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業X光膠片 JB行業標準試塊 GB國家標準試塊 焊縫自然缺陷試塊 CSK-IA超聲波試塊 超聲波檢測試塊 *標準試塊與其他*標準試塊 工業恒溫洗片機、干片機 進口 超聲波耦合劑 其它
產品簡介
詳細介紹
CSK-IA超聲波檢測試塊技術參數:
名稱:標準試塊
型號規格:CSK-IA
執行標準JB/T4730-2005
材質:45號鋼
毛坯種類:鍛打件
熱處理狀態:正火處理。
超聲波標準試塊檢測報告
CSK-IA超聲波檢測試塊
超聲波標準試塊檢測報告 | |||
1 | 本體材料化學成分 | 主要化學成分應符合GB699 | 合格 |
2 | 本體材料晶粒度 | 本材料經正火處理后,晶粒度應達到7級以上。 | 合格 |
3 | 本材料內部缺陷 | 使用5MHZ直探頭,對試塊進行接觸法超聲波探傷,不得出現大于對比試塊DB-PZ2-2平底孔回波幅度1/4的缺陷回波。 | 合格 |
4 | 折射角度偏差 | 使用2.5MHZ、折射角為45度的斜探頭檢測時,不得超出±2度 | 合格 |
5 | 有機玻璃鑲嵌件縱波傳播時間 | 長溫下,有機玻璃23mm厚度縱波傳播時間相當與20(45)號鋼50mm厚度的縱波時間 | 合格 |
6 | R100圓弧面中心位置偏差 | 使用2.5MHZT 5MHZ的斜探頭檢測時,不得超出±0.5mm | 合格 |
7 | R100圓弧面回波幅度偏差 | 使用2.5MHZ和 5MHZ的斜探頭檢測時,不得超出1.5dB | 合格 |
8 | 外觀及表面粗糙度 | 外觀光滑無明顯劃傷,碰傷,銹蝕等缺陷,表面粗糙度探測面不得低于Ra3.2,其余Ra6.3 | 合格 |
9 | 幾何尺寸,行位公差 | 尺寸.公差±0.1 | 合格 |
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