邁可諾技術有限公司
主營產品: 美國Laurell勻膠機,WS1000濕法刻蝕機,Cargille光學凝膠,EDC-650顯影機,NOVASCAN紫外臭氧清洗機 |
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2019-4-9 閱讀(3136)
鈣鈦礦廣泛用于太陽能電池的開發。由于這些類型的太陽能電池具有良好的光伏性能,因此對它們進行了系統的研究。鈣鈦礦薄膜的厚度和形態是影響太陽能電池性能的重要因素。特別地,人們發現,當鈣鈦礦的厚度小于400nm時,鈣鈦礦太陽能電池的效率很大程度上取決于薄膜厚度;而當鈣鈦礦的厚度大于400nm時,效率則很大程度上取決于鈣鈦礦層的薄膜形態。在本應用說明中,我們使用FR工具測量鈣鈦礦薄膜的厚度。
測量方法:用于表征的樣品是兩種不同厚度的CH3NH3PbBr3鈣鈦礦薄膜,它們位于標準ITO/SiO2/Soda-lime基底上,如示意圖1所示。 使用FR-Basic VIS / NIR進行反射測量,在350-1020nm的光譜范圍內操作。
結果:兩種樣品的典型獲得的反射光譜(黑線)和擬合的反射光譜(紅線),如FR監控軟件所示,分別在圖2a)和b)中所示。 兩種測量方法的擬合在500-750nm光譜范圍內進行,樣品1中鈣鈦礦薄膜的厚度在516.9nm處測量,而樣品2中的厚度在394.4nm處測量。
圖2a):樣品1的實驗和擬合反射光譜。在515nm處測得的厚度
圖2b):樣品2的實驗和擬合反射光譜。在392nm處測得的厚度。
結論:對鈣鈦礦薄膜厚度測量的基本性能進行了驗證。
Reference:
1 K. Wang, C.Liu, P. Du, L. Chen, J. Zhu, A. Karim, and X. Gong, “Efficiencies of perovskitehybrid solar cells influenced by filmthicknessand morphologyof CH3NH3PbI3-xClx layer,” Org. Electron. physics, Mater. Appl., vol. 21, no. February, pp.19–26,2015.
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