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Anton Paar Conscan白光共聚焦顯微鏡
  • Anton Paar Conscan白光共聚焦顯微鏡
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貨物所在地:上海上海

更新時(shí)間:2024-08-03 21:00:06

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白光共聚焦顯微鏡結(jié)合了高分辨率三維立體成像顯微鏡和光學(xué)顯微鏡兩者的優(yōu)點(diǎn)。它為您提供在微米尺度定量研究材料表面形貌的全新可能性。

我們的主要產(chǎn)品包括:

測量材料硬度和彈性模量的納米級(jí)、微米級(jí)儀器化壓入測試儀(納米壓痕儀, 顯微壓痕儀); 
界定膜基結(jié)合強(qiáng)度、薄膜抗劃擦能力的納米級(jí)、微米級(jí)、大載荷劃痕測試儀 (Scratch tester) ; 
包括真空、高溫以及線性往復(fù)運(yùn)動(dòng)等選項(xiàng)的摩擦磨損測試儀、納米摩擦儀 (摩擦磨損試驗(yàn)機(jī) ; 
zui簡便易用的膜厚測試儀; 
用于三維成像表征材料表面形貌的原子力顯微鏡 (AFM) 和白光共聚焦顯微鏡 (Confocal Microscope) 。


Anton Paar Conscan白光共聚焦顯微鏡主要特點(diǎn):
可與CSM各種微米尺度測量模塊結(jié)合使用,以分析微米級(jí)劃痕和微米級(jí)壓痕的三維表面形貌 
非接觸式測量,*無損測量 
XY大范圍掃描(使用CSM標(biāo)準(zhǔn)操作平臺(tái)) 
Z方向?qū)拻呙璺秶?(zui大范圍 400 微米) 
精確的二維輪廓,三維成像和表面粗糙度測量 
可以在透明的材料表面進(jìn)行成像 
粗糙或光滑表面成像 
Z方向zui大掃描范圍的多種選擇

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