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XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能*,而且價錢*
同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果
甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統，十字線自動調整。超大/開放式的樣品臺，
可測量較大的產品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業的*。可測量各類金屬層、
產品簡介
詳細介紹
目的：
提供X-ray測厚儀的操作及方法，從而了解鍍層（金、鎳、錫、銀）的厚度情況。
2.0 范圍：
適用于本公司品質部物理實驗室X-ray測厚儀。
3.0 X-ray測厚儀操作要求及規范
3.1測試環境：溫度22±3℃，濕度60±15%。
3.2開機：打開測試主機、電腦、顯示器，打印機電源。
3.3進入Windows XP系統，雙擊Xray圖標，此時輸入設定的密碼。
3.4升壓：待機器完成初始化（既工作臺上下移動一周）后，待機30分鐘，可進行下一步操作。
波譜校準: 每日必做，作用在于讓儀器進行自我補償調整。首先點擊工具欄中系統調校圖標 ，然后將系統調校準的標準片放入儀器移至十字線中間，對焦，測量（按START鍵）。待儀器自動完成*步，第二步至zui后一步。此時對話框自動關閉，系統調校成功。若不成功，檢查是否做錯，重做一次也失敗的話請致電儀器服務商。