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Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS原素分析儀是在XRF-2000系列測厚儀的基礎上增加了元素分析及有害物質檢測的功能，其特點為：高分辨率，固態探測器； 分析有害物質，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE標準測試以及ELV指令優化的應用； 測量多層鍍層或錫鉛成分分析；電鍍溶液分析；定性分析超過30種元素,能夠測量液體，固體，粉末，薄膜和不規則形狀；貴金屬元素含量和分析（金，銀，鉑，和珠寶）；自動過濾器，多準直儀（五個準直器，從0.1mm-3.0mm）和全自動XYZ移動樣品臺；性價比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器
本公司還供應上述產品的同類產品：X射線分析儀器,X熒光測厚儀,X-RAY測厚儀
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